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X 射线荧光光谱法测定硅铁和硅锰合金中常规元素 应
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丁明 李小杰 沈克 齐郁 张安琪 (武汉钢铁股份有限责任公司质量检验中心 湖北武汉430080 )
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摘 要:本文系统研究了XRF 压片测定硅铁和硅锰合金常规元素的试验方法,包括试样粒度、压片制备、试验条件及 t
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方法精密度等,获得了满意的测定结果,大大的提高了分析结果的科学性、准确性和可靠性。 n
关键词:XRF 压片 硅铁 硅锰合金 常规元素
硅铁和硅锰合金是钢铁冶炼主要的添加剂和脱氧剂, 最强,精度最优原则,确定了各元素的分析线与分析条
准确的测定其中各个元素是十分必要的。作为合金分析通 件,由于硅铁中硅含量太高,如采用固定道,检测信号太
常采用化学分析方法测定主量元素硅和锰,采用ICP 测定 强,直接影响测定结果的精度和准确度。虽然通过改变管
其中的各杂质元素,就其方法而言化学分析方法耗时较长, 压/ 管流可以改善这一现象,考虑到分析条件的一致性和
操作繁复,ICP 分析虽然时间较短,但仍需要进行试样分 对光管保护作用,因此采用了扫描道进行测定,硅锰合金
解。通过大量的实验研究确定了试样粒度、样环的材质、 中硅含量较低,直接采用固定道。
样片的制备方法、测定条件等采用XRF 压片法测定硅铁 2.4 校准工作曲线的绘制
和硅锰合金
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