X射线荧光光谱分析法在钨矿检测中的应用与分析.pdfVIP

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2019-04-29 发布于安徽
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X射线荧光光谱分析法在钨矿检测中的应用与分析.pdf

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目录摘要 I Abstract II 目录 III 第一章引言 1 1.1 钨的概述 1 1.1.1 钨矿概述 1 1.1.2 钨资源的分布 1 1.1.3 钨的用途及前景 2 1.1.4 赣州钨产业优势 3 1.2 课题背景 3 1.2.1 钨产业现状 3 1.2.2 课题目的4 1.2.3 钨矿分析方法现状4 1.3 X 射线荧光光谱分析概述 6 1.3.1 X 射线荧光光谱分析技术的发展 6 1.3.2 X 射线光谱分析技术的应用 7 1.4 课题提出 9 1.4.1 研究内容和方法 9 1.4.2 研究特色 9 第二章实验方法 10 2.1 样品制备 10 2.1.1 试样形式与来源 10 2.1.2 试样前处理 10 2.1.3 制样方法选择 12 2.1.4 溶液-滤纸薄样法制样 12 2.1.5 标准样品制备 13 2.2 实验仪器条件设置 14 2.2.1 激发系统选择 14 2.2.2 色散系统选择 17 2.2.3 检测系统选择 18 2.3 实验程序汇编 20 2.3.1 测量程序汇编 20 III 2.3.2 建立标准样品数据库 27 2.4 本章小结 30 第三章溶液-滤纸薄样法实验结果与讨论 31 3.1 溶液-滤纸薄样法制样的结果与讨论 31 3.1.1 试样溶解条件 31 3.1.2 薄样法条件 32 3.2 标准曲线与基体效应校正 34 3.2.1 基体效应 34 3.2.2 基体效应校正 35 3.2.3 标准曲线 36 3.3 样品分析结果 38 3.3.1 精密度与准确度 38 3.3.2 检出限 39 3.4 本章小结 39 第四章同时分析主次元素组分含量实验40 4.1 制样方法40 4.1.1 制样方法现状40 4.1.2 实验主要试剂41 4.1.3 压片法制样研究41 4.1.4 熔融法制样研究43 4.2 测量及校正46 4.2.1 分析测量程序46 4.2.2 测量条件及背景校正48 4.2.3 谱线干扰校正49 4.2.4 基体效应校正