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- 2019-05-05 发布于广东
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第3章 故障模型
第3章 故障模型
故障的模型化：对故障作一些分类，并
构造最典型的故障
基本原则：
– 全面准确反映某一类故障对系统的影响
– 尽可能简单，易处理
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VLSI TESTING
集成电路中的一些实际缺陷
集成电路中的一些实际缺陷
Processing defects
Missing contact windows
Parasitic transistors
Oxide breakdown
. . .
Material defects
Bulk defects (cracks, crystal imperfections)
Surface impurities (ion migration)
. . .
Time-dependent failures
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