西安电子科技大学集成电路测试技术 课程概述.pdfVIP

集成电路测试技术 集成电路测试技术 VLSI Testing VLSI Testing 西安电子科技大学微电子学院 课程介绍 课程介绍 微电子学院本科生专业课 教材：雷绍充 等 超大规模集成电路测 试，2008电子工业出版社 （ VLSI测试方法学与可测性设计 2005 年1月 ） 授课30学时 考核方式：作业30％＋期末考试70％ 主讲：张弘 smezhang@163.com 2 VLSI TESTING 参考资料 参考资料 Bushnell等：超大规模集成电路测试，电子 工业出版社，2005 时万春等：现代集成电路测试技术，化学工 业出版社，2006 IEEE – VLSI Testing – Design Test of Computer – International Test Conference – Test and Measurement World 3 VLSI TESTING 第0章 概述 第0章 概述 研究意义 内容安排 常用术语 集成电路发展 – SSI – MSI – LSI – VLSI – ULSI 5 VLSI TESTING 摩尔定律 摩尔定律 在六十年代，Gordon E. Moore是仙童半 导体公司(Fairchild Semiconductor) 研发 部的经理。1965年时，他注意到芯片的 部件数每年会翻一番。 6 VLSI TESTING 摩尔定律 摩尔定律 1975年间，IEEE 的国际电子器件大会 上，摩尔修改了他的预言，并声称单个 芯片上晶体管的数量每两年会翻一倍。 他之所以做出更改是因为他预见到器件 和电路的创新速度会明显减缓。 然而并不是摩尔本人，而是他的一个同 事Carver Mead真正为这个预测命名摩尔 定律。 在八十年代，Intel前执行官David House 提出芯片性能每18个月会提升一倍。 7 VLSI TESTING 摩尔将定律继续？ 摩尔将定律继续？ More Moore More than Moore 后摩尔时代 8 VLSI TESTING 集成电路生产的四个主要环节: – 设计 – 制造 – 封装 – 测试 – 测试 9 VLSI TESTING IC的发展 IC的发展 尺寸减小 μm nm 集成度 几百 十亿 运行时钟 KHz GHz 结果造成，IC的制造缺陷的可能性增大， 结果造成，IC的制造缺陷的可能性增大， 要求用测试技术来确保产品合格 要求用测试技术来确保产品合格