西安电子科技大学集成电路测试技术第2章 电路测试基础.pdfVIP

第2章 电路测试基础 第2章 电路测试基础 测试与设计环节的关系 测试分类 物理缺陷、失效及故障 测试生成 数字电路模型 1 VLSI TESTING 测试定义 测试定义 电路测试（Testing）：对被测电路（CUT， 电路测试（Testing）：对被测电路（CUT， Circuit Under Test）施加已知的测试矢 Circuit Under Test）施加已知的测试矢 量，观察其输出结果，并与已知正确的输出 量，观察其输出结果，并与已知正确的输出 响应进行比较，从而判断集成电路芯片功 响应进行比较，从而判断集成电路芯片功 能、性能、结构好坏的过程。 能、性能、结构好坏的过程。 事先已产生的测试矢量集合、已确定的电路 结构和已知正确的输出响应结果。 测试技术包括测试生成技术、响应分析技 术、自动测试技术和可测性设计技术等 是验证设计、监控生产、保证质量、分析失 效以及指导应用的重要手段。 2 VLSI TESTING 测量（Measurement ）是用实验的方法得到 被测量大小的过程，测量的结果是量值的大 小数值，单纯是一个定量认识过程。电子测 量的对象是材料、元件、器件、整机和系统 的特征电磁量。 诊断（Diagnosis ）的定义是：根据对被诊断 对象测试所取得的有用信息进行分析处理， 判断被诊断对象的状态是否处于异常状态或 故障状态，确定故障的方位，揭示故障发生 的原因，预示故障的发生。在集成电路测试 当中，一般多称为故障诊断。 3 VLSI TESTING 测试技术的发展 测试技术的发展 早期设计和测试是分离的 1980’s 应用故障模拟测试技术 当前多采用可测性设计技术DFT 4 VLSI TESTING 集成电路测试技术发展的趋势 集成电路测试技术发展的趋势 1)理论的发展 2)新技术的应用 3) 网络化测试 4)虚拟测试 5)现场测试（Field Test ） 6)系统级测试 5 VLSI TESTING VLSI 设计流程 VLSI 设计流程 描述Vhdl Verilog 综合优化匹配 设计 综合 逻辑、时序验证 时间优化 可测性分析 测试 工程化设计 测试生成 可测性设计 综合 投片 前测试 样品成品测试 实际应用