面向先进FPGA器件的单粒子翻转软错误研究-集成电路工程专业毕业论文.docxVIP

万方数据 万方数据 上海交通大学 学位论文原创性声明 本人郑重声明：所呈交的学位论文《面向先进 FPGA 器件的单粒 子翻转软错误研究》，是本人在导师的指导下，独立进行研究工作所 取得的成果。除文中已经注明引用的内容外，本论文不包含任何其他 个人或集体已经发表或撰写过的作品成果。对本文的研究做出重要贡 献的个人和集体，均已在文中以明确方式标明。本人完全意识到本声 明的法律结果由本人承担。 学位论文作者签名： 日期： 年 月 日 上海交通大学 学位论文版权使用授权书 本学位论文作者完全了解学校有关保留、使用学位论文的规定， 同意学校保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和电子版， 允许论文被查阅和借阅。本人授权上海交通大学可以将本学位论文的 全部或部分内容编入有关数据库进行检索，可以采用影印、缩印或扫 描等复制手段保存和汇编本学位论文。 保密□，在 年解密后适用本授权书。 本学位论文属于 不保密□。 （请在以上方框内打“√”） 学位论文作者签名： 指导教师签名： 日期： 年 月 日 日期： 年 月 日 上海交通大学硕士学位论文 上海交通大学硕士学位论文 面向先进 FPGA 器件的单粒子翻转软错误研究 摘 要 随着现场可编程逻辑技术的不断发展，FPGA 器件在航空航天、 军事和各类商业电子领域得到了广泛的应用。相对于传统的专用集成 电路器件，基于 FPGA 器件的应用开发具有周期短、成本低以及可重 配置等诸多优点。然而在辐射环境下，FPGA 器件内部存在的大量可 编程单元极易受到高能粒子的影响而发生单粒子软错误效应，导致器 件的结构与功能发生变化而失效。因此，面向 FPGA 器件的软错误防 护与加固问题已经成为学术界和工业界研究的热点。 本文的研究首先基于故障注入的测试方法，建立了 FPGA 软错误 的硬件评估平台，对先进 FPGA 的器件结构及其软错误效应进行了详 尽的分析。分析结果表明，FPGA 的互连资源更易受到高能粒子影响 而发生软错误。进一步，在软错误效应硬件评估的基础上，本文对 FPGA 器件结构和软错误行为进行了软件建模，构建了软错误软硬件 协同评估平台，从而能够对软错误效应进行准确地软件仿真，为下一 步的软错误检测和防护设计提供了准确的评估工具和手段。 接下来，本文的研究面向软错误的检测和防护问题，进一步提出 了一种基于冗余互连资源的双备份比较检测技术。该技术充分利用设 计中互连资源存在较多冗余这一现象，开发了高效的冗余互连资源搜 索算法，并借助对 FPGA 结构的简单修改，实现了对互连资源软错误 的高效在线检测。最后，借助已建立的软错误软硬件评估平台，本文 对提出的双备份比较检测技术进行了全方位的评估。实验结果表明， 基于冗余互连资源的双备份比较技术能够在较低的面积与时序开销下 对不同的设计达到较好的软错误检测效果，一般能达到 60%以上的检 测覆盖率。结合已有的软错误纠正手段，可以有效地降低 FPGA 器件 I 因软错误而发生失效的概率。 关键词：FPGA、软错误评估与防护、双备份比较技术、冗余互连资源 II RESEARCH ON SINGLE EVENT UPSET SOFT ERROR FOR MORDEN FPGA DEVICES ABSTRACT With the continuous development of field programmable logic technology, FPGA devices have been widely used in the aerospace, military, commercial electronics and other fields. Compared to traditional application specific integrated circuit devices, FPGA devices have many advantages, such as short development cycle, low cost, better reconfigurability and so on. However, in the radiation environment, the FPGA devices with a large number of programmable units are highly susceptible to the high energy particles, which easily lead to the soft error problem and result in functional failures on the device. Therefore, the protection agai