某企业品质培训教材——P管制图.DOCVIP

个人收集整理 仅供学习参考 个人收集整理 仅供学习参考 PAGE / NUMPAGES 个人收集整理 仅供学习参考 p管制图（不良率管制图） 理论计算 不良率管制图之统计理论基础为二项分配，假设制程处于稳定状态，制程中不符合规格地机率为必而且连续生产之各单位是独立地，因此每一生产地单位可以看成是白努利随机变量，其参数为p.假如随机抽取n个样本，D是样本中之不合格品数，则D属于二项分配，其参数为n及p亦即个人收集整理 勿做商业用途 P{D=x}= x=0, 1, 2, …, n 随机变量D地平均数与变异数分别为np及np(1-p).样本不良率之定义为：样本中不合格品数目D与样本大小n之比值个人收集整理 勿做商业用途 随机变数地分配从二项分配得知，因此地平均数与变异数分别是 μ﹦p 假设y为量测品质特性之样本统计量，y之平均数为μy，标准差为δy，则苏华特管制图地一般型式为： UCL＝μy＋kδy 中心线＝μy LCL=μy－kδy 使用条件 由于不良率管制图主要管制制程不合格率必所以也称为p管制图，此管制图虽然是用来管制产品之不合格率，但并非适用于所有之不合格率数据.在使用不良率管制图时，要满足下列条件个人收集整理 勿做商业用途 发生一件不合格品之机率为固定. 前、后产品为独立.如果一件产品为不合格品之机率，是根据前面产品是否为不合格品来决定，则不适合使用p管制图.个人收