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胡俊杰 2005.3 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验目的 熟悉电子实验箱的功能及使用方法。 认识集成电路的型号、外形和引脚排列 学习在实验箱上实现数字电路的方法。 掌握逻辑门电路逻辑功能的测试、使用的基本方法。 掌握逻辑门电路的替换方法。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验原理 逻辑门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。 实验中提供的集成块为74LS系列的低功耗肖特基TTL电路和74HC系列高速CMOS电路，它们在逻辑上兼容，但具体物理参数不同，在实验中采用统一电源＋5V；经实际测定可以直接互接，但有些条件下要通过接口互接，在74LS门电路驱动74HC门电路时，要测量输出高电平电压是否够高，实际测量值要≥3.5V。而74HC门电路驱动74LS门电路时，扇出系数较小，小于10。。 本次实验是在门电路的输入端输入不同的电压时，表示输入不同的逻辑电平。输出端输出不同电压，表示输出不同逻辑电平。测量输入、输出电压变化与逻辑电平的对应关系，根据输出电平与输入电平关系，以确定门电路的逻辑功能。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 表1-2 双极型与CMOS一般特性比较 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 注意事项 在实验箱上会遇到各种实际问题，比原理上复杂，操作不当会引起实验结果不正确，还会损坏仪器设备和元器件，要注意以下事项。 实验开始前，清理实验箱上引线后，打开电源，如电源指示有问题，向教师报告。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 注意事项 接线时仔细检查是否有电源短路、正确接地，检查接线正确后才可开启电源，如发现电源指示灯灭掉，立即关掉电源，检查是否电源短路。 禁止带电接线：新接电路和对线路进行重新接线时，应关掉实验箱的电源，以防损坏元件和实验箱。 插、拔连线时，要抓住导线的插头，不可以拉线，以免损坏导线，开始接线前，需要先测量导线内部是否导通。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 注意事项 门电路的输出端的处理：（由于门电路输出阻抗很小，负载过小时会被烧坏。） 输出端不可以直接并联（短接）使用，需经过门电路并联，但可以悬空，OC门和三态门除外。 不能直接接地或接电源，须加几百Ω以上的电阻作为负载，具体数值需根据实际电路计算。 接指示灯时，最好经1k Ω电阻由三极管放大后驱动指示灯。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 注意事项 闲置输入端的处理：（不要悬空，不然会产生干扰，影响实验结果，对CMOS电路输入引脚悬空时容易损坏。） 对于与门/与非门：应接高电平，也可并联（不可超出前一级门的扇出能力），不可以接低电平。A=A?1 对于或门/或非门：应接低电平，也可并联（不可超出前一级门的扇出能力），不可以接高电平。A=A+0 对于其他类型电路，以不影响逻辑关系为原则接不同电平，建议少用并联法，以防止前级电路驱动能力不够。 在实验箱上接线时，先画出原理图，标上接线的引脚号，按图接线。 做完实验，需经老师检查实验结果，最后关闭电源，将实验箱整理好，才可离开。 上实验课前，必须预习并写好预习报告，实验时记录好原始数据，实验完成后认真写好实验报告，做下次实验前交上，一份也不能少。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验内容 与非门逻辑功能测试。 用与非门控制信号输出。 组合电路逻辑功能测试。 利用与非门组成其它逻辑门电路。 2输入与非门组成或门。 用2输入与非门组成与门 Y=A·B 用2输入与非门组成同或门 Y=A⊙B ★ 2选1 用2输入与非门组成异或门 Y=A⊕B 设计一个4位二进制数为密码的数字密码锁。 实验箱介绍 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验箱使用 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 与非门逻辑功能测试接线准备 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验箱使用 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验箱使用 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验箱使用 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 与非门逻辑功能测试接线过程演示 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验内容 一、与非门逻辑功能测试 目的：通过对四输入与非门的逻辑功能测试，学习实验箱使用，利用集成块在实验箱上实现电路的方法、注意事项。 实验步骤 选用元器件74LS20或74HC20集成块一片。 按图1-3门电路测试原理图接线。 测试并将结果记录到4输入与非门测试表（表1-1）中。 体会电平与电压关系，对比其它同学的测试数据，了解COMS与TTL区别。 操作提示 逻辑输入接电平开关，接通＋5V电源为高电平（指示灯亮），接通“地”为低电平。 逻辑输出接发光二极管，指示灯亮时输出高电平，灭时输出低电平。 测量输出不同电平的电压，记录到表1-1，电压值在输出引脚处测量。 原理图中发光二