扫描探针显微技术之二——原子力显微镜(AFM)技术.pptVIP

原子力显微镜Atomic Force Microscopy;主要内容;scanning tunneling Microscopy (STM，1982) Atomic force microscopy (AFM) Lateral Force Microscopy (LFM) Magnetic Force Microscopy (MFM) Electrostatic Force Microscopy (EFM) Chemical Force Microscopy (CFM) Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM) ; 1986，IBM，葛·宾尼（G. Binnig）发明了原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM)——新一代表面观测仪器．;基本原理;sample;基本原理;AFM信号反馈模式;微悬臂位移量的检测方式;力检测部分;接触模式 (contact mode) 非接触模式 (non-contact mode) 轻敲模式 (tapping / intermittent contact mode) ; 针尖始终向样品接触并简单地在表面上移动，针尖—样品间的相互作用力是互相接触原于的电子间存在的库仑排斥力，其大小通常为10－8 —10－11N。; 优点：可产生稳定、高分辨图像。 缺点： 可能使样品产生相当大的变形，对柔软的样品造成破坏，以及破坏探针，严重影响AFM成像质量。; 相互作用力是范德华吸引力，远小于排斥力. ; 优点：对样品无损伤 缺点： 1）分辨率要比接触式的低。 2）气体的表面压吸附到样品表面，造成图像 数据不稳定和对样品的破坏。 ; 介于接触模式和非接触模式之间: 其特点是扫描过程中微悬臂也是振荡的并具有比非接触模式更大的振幅(5~100nm)，针尖在振荡时间断地与样品接触。 ; 特点： 1）分辨率几乎同接触模式一样好； 2）接触非常短暂，因此剪切力引起的对样品的破坏几乎完全消失； ;工作模式-轻敲模式;;;相位成像(phase imaging)技术 通过轻敲模式扫描过程中振动微悬臂的相位变化 来检测表面组分,粘附性,摩擦,粘弹性和其他性质 的变化.;基本原理;基本原理;原子力显微镜之解析度;基本原理;基本原理;氮化硅探针针尖放大图;为克服“加宽效应”： 一方面可发展制造尖端更尖的探针技术， 另一方面对标准探针进行修饰也可提高图像质量。 ;AFM技术的主要特点:;主要内容; ;用AFM观察DNA双螺旋结构;用AFM观察细胞生长;用AFM观察集成电路的线路刻蚀情况;高分子领域的应用;聚合物膜表面形貌与相分离???察;聚合物膜表面形貌与相分离观察;高分子结晶形态观察;聚苯乙烯/聚甲基丙烯酸甲酯嵌段共聚物的苯溶液在ＬＢ膜槽内分散,而后在极低的表面压下(0.1ｍＮ/ｍ)将分子沉积在新鲜云母表面。;;AFM在聚合物膜研究中的应用;1 表面整体形态研究;2 孔径(分布),粒度（分布）研究;Section analysis of TM-AFM image.;Tapping mode atomic force micrographs;;3 粗糙度研究; 膜污染研究-超滤膜或微滤膜;;; AFM 以分辨率高、制样要求简单、得到的样品表面信息丰富的特点在各领域得到了越来越广泛的应用。; THE END！