模拟CMOS集成电路设计-ch1-2.pptVIP

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  • 2019-05-23 发布于山东
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提纲 1、绪论 2、MOS器件物理基础 1、绪论 先修课程:模拟电路基础、器件模型、集成电路原理 教材: 模拟CMOS集成电路设计,[美]毕查德.拉扎维 著,陈贵灿 程军 张瑞智 等译,西安交通大学出版社。 参考教材: CMOS模拟电路设计(第二版)(英文版),[美] Phillip E. Allen, Douglas R. Holberg 著,电子工业出版社。 2、MOS器件物理基础 2.1 基本概念 2.1.1 MOSFET的结构 栅(G: gate)、源(S: source)、漏(D: drain)、衬底(B: bulk) MOSFET是一个四端器件 2.1.2 MOS符号 2.2 MOS的I/V特性 2.2.1 阈值电压(以N型FET为例) 耗尽(b);反型开始(c);反型(d) 阈值电压(VTH)定义 NFET的VTH通常定义为界面的电子浓度等于P型衬底的多子浓度时的栅压。 “本征”阈值电压 通过以上公式求得的阈值电压,通常成为“本征(native)”阈值电压,典型值为-0.1V. 在器件制造工艺中,通常通过向沟道区注入杂质来调整VTH 对于NMOS,通常调整到0.7V(依工艺不同而不同) 2.2.2 MOS器件的I/V特性 NMOS PMOS 截止区

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