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E、基体效应的影响 试样组份影响弧焰温度,弧焰温度又直接影响待测元素的谱线强度,由于其它元素共存而影响待测元素谱线强度的作用称为第三元素的影响或基体效应,对于成分复杂的样品来说,第三元素的影响往往是很显著的同并引起较大的分析误差。 为了减少试样成分对弧焰温度的影响,稳定弧焰温度,经常加入一些光谱添加剂(如缓冲剂)。 3、AES定量分析方法 a.工作曲线法:三标准试样法 log I log C log I = b log C + log A ΔS logC ΔS = blogC+ γ log A logC logR logR=log(I分/ I内)= blogC+log A b.标准加入法(增量法) 当测定低含量元素,无合适的基体配制标准样品时采用此法。见P35 此法在火焰光度法中有应用,此外还有标准加入比较法。 特征谱线 △E3=hc/λ3 △E2=hc/λ2 λ不同 △E1=hc/λ1 不同原子 自己独特的特征谱线 分析依据 定性 定量 某物质特征谱线存在与否 应用:元素/特别是金属分析 仪器 光源 试样 原子蒸气 激发态 特征谱线 单色器 检测器 原子发射光谱法特点及适用范围 (1)操作简单、分析快速 (2)灵敏度高 (3)选择性好 (4)试样用量较少 (5)微量分析准确度高 (6)只能确定物质的元素组成与含量,不能给出物质分子及其结构的信息。 本章讲授要点 原子发射光谱的产生 原子发射光谱线 谱线强度及其影响因素(重点) 原子发射光谱仪 原子发射光谱摄谱法的定性分析(重点) 原子发射光谱摄谱法的定量分析(重点) 原子荧光分析法 原子发射光谱法的应用 一、何谓发射光谱分析法? 物质通过电致激发、热致激发或光致激发等激发过程获得能量,变为激发态原子或分子M* ,当从激发态过渡到低能态或基态时产生发射光谱。 M* ?? M + hv 通过测量物质的激发态原子发射光谱线的波长和强度进行定性和定量分析的方法叫发射光谱分析法。 E2 E0 E1 E3 二. 原子发射光谱的产生 气态激发态原子、离子的核外层电子,迅速回到低能态时以光辐射的形式释放能量。原子发射光谱 E2 E0 E1 E3 电能、热能、光能等激发气态原子、离子的核外层电子跃迁至高能态。 ?h?i (一)原子发射光谱线 1. 激发电位 低能态电子被激发到高能态需要的能量。 2. 共振线、主共振线 由激发态直接跃迁至基态时辐射的谱线称为共振线。由第一激发态直接跃迁至基态的谱线称为主共振线(第一共振线) 3.分析线、灵敏线、最后线 用来定性或定量分析的特征谱线称分析线。 每种元素的原子光谱线中,凡具有一定强度、能标记某元素存在的特征谱线,称为该元素的灵敏线。 当被测某元素含量降低到最低限度时,仍能坚持出现的最后一条谱线,称最后线,也是最灵敏线。 最后线不一定是最强的谱线。 (主共振线通常是最强的谱线) 4. 原子线、离子线 原子线(Ⅰ) :原子核外激发态电子跃迁回基态所发射出的谱线。 M * ? M (I) 离子线(Ⅱ,Ⅲ) :离子核外激发态电子跃迁回基态所发射出的谱线。 M+ * ? M+ (Ⅱ) M2+* ? M2+ (Ⅲ) (二) 谱线强度及其影响因素(重点) 谱线的强度是原子发射光谱的定量定性依据。 Iqp = Aqp?N0?(gq/g0)?hυqp?e-Eq/kT ——谱线强度的基本公式。 Aqp 为原子由q能态向p能态跃迁的概率 Iqp为谱线强度 N0基态原子数 Nq激发态原子数 gq 、g0 —激发态和基态的统计权重(粒子在某一能级下可能具有的几种不同的状态数) Eq —激发电位 k —Boltzmann常数 T —温度K 谱线强度与激发能的关系: 当N0和T一定时,Eq越低,Nq越多,Apq越大,谱线强度越强; Ipq与Eq呈反比关系。 每种元素的主共振线激发能最小,是原子中最易激发的谱线,因此主共振线通常是最强的谱线。 谱线强度与温度的关系: 每一条谱线都有一个最合适的温度,此温度下谱线强度最大。 谱线强度与试样中元素含量的关系: I= a ×c (a为与谱线性质、试验条件有关的常数) 即在一定的分析条件下,谱线强度与该元素在试样中的浓度成正比。因浓度大时发生自吸,所以上式修正为: I= a ×cb 或 lgI=blgc+lga 原子发射光谱法定量分析的基本公式(记住!) (三)谱线的自吸和自蚀 自吸:由弧焰中心发射出来的辐射光,被外围的基态或低能态的原子所吸收,从而
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