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- 2019-05-26 发布于上海
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万方数据
万方数据
摘要
摘 要
随着半导体工艺的发展,流水线 ADC 的设计正向全数字结构的校准方向发展, 因此使得功耗、误差估计、设计难度、芯片面积等有了很大的改善。尤其是在亚 微米级、深亚微米级和纳米级的 CMOS 工艺下,可以采用大规模的数字校准技术, 使得模拟电路的性能要求和设计难度大大降低。因此,目前在很多流水线 ADC 设 计中,大多都引入了数字校准技术,并且这种趋势会在今后会更加明显。
首先,分析了流水线 ADC 的结构,总结了 ADC 的性能指标,对非理想因素 建立了误差模型,包括比较器失调误差、子 DAC 误差、ADC 失调误差、运放增 益误差、运放非线性误差。然后,根据近十年来的国内外研究成果,总结了流水 线 ADC 的数字校准技术,并将其分类为五大类:码域均衡、分裂法、跳补法、离 线法和 PN 注入,并分别对每种技术做出了优缺点分析。
同时,本文还研究了一种 BLMS 的数字校准算法,该校准技术能够在后台模 式下,自适应的校准流水线 ADC 的线性和非线性误差。结合一个 200MS/s 的流水 线 ADC,仿真结果显示,在输入 90.55MHz 的信号时,ADC 的性能能够达到 85.49dB 的 SNDR,95.21dB 的 SFDR。相比与未校准的情况,SNDR 和 SFDR 分别提高了 38.05dB 和 43.51dB。
最后,用 ASIC 流程方案
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