XRD荧光衍射的工作原理.pptVIP

（2）结晶度的测定 结晶度是结晶峰面积与总面积之比 晶体粒度大小测定 微晶尺寸在0-1000nm时，可以用Scherrer公式计算晶粒 D=Kλ/βCOSθ D：所规定晶面族发向方向的晶粒尺寸 β：为该晶面衍射峰的半峰高的宽度 K：为常数取决于结晶形状，通常取1 θ：为衍射角 （3）晶体尺寸的测定 晶粒越小，衍射线就越宽 晶粒无限大时 晶粒尺寸有限时 五、X射线衍射的进展 1、 X射线衍射在薄膜材料的应用 研究薄膜材料的结构参数如厚度、应力分布、表面／界面粗糙度等信息对进一步优化制备工艺、改善材料性能具有重要指导意义。由于同步辐射光源的利用，X射线衍射已将薄膜结构表征推上了更高层面.X射线衍射，特别是基于同步辐射X射线衍射，可以表征原子尺度超薄膜的结构信息，这是其他表征手段所无法实现的。 2、 X射线衍射貌相术和异常散射貌相术 X射线貌相术的分辨能力和光学显微镜类似，约为1μｍ，但X射线的穿透力很强，能够无损伤地研究大块晶体中的缺陷分布。和同样可以研究缺陷态的透射电子显微术相比，非破坏性是X射线衍射貌相术具有的独特优势。常规X射线貌相术实验方法一般有透射投影貌相术（Ｌａｎｇ法）、反射貌相术（Ｂｅｒｇ－Ｂａｒｒｅｔｔ法）、双晶貌相术和异常透射貌相术（Ｂｏｒｒｍａｎｎ法）。近年