“设备不拆高压引线电气试验方法的研究”技术总结.docVIP

PAGE PAGE 8 500kV设备不拆高压引线电气试验方法的研究 佛山供电局 试验研究所 高压分部 一、前言 2002年以前，佛山供电分公司对500kV电气设备，如：断路器、电流互感器，已是不拆高压引线进行电气试验，但对主变、避雷器（MOA）、电容式电压互感器（CVT）等设备试验时，考虑到设备结构特点、电场干扰强烈等原因，不拆线试验难度较大，在预防性试验时仍需拆除高压引线。由于500kV电气设备高压引线高、粗、长、重，需要动用高空作业车配合检修人员进行解、接高压引线，在非全站停电时设备上的感应电压高，这些都花费了不少时间，给工作带来很大的不便，延长了试验停电时间。同时，还可能由于接引线接头接触不良引起接头发热，给设备安全运行带来隐患。 这次研究主要结合500kV罗洞站的实际，针对500kV电气设备不拆引线的试验方法进行，代替原来需要拆除高压引线的试验方法。该方法也可适用于500kV以下电压等级的同类设备试验。同时，考虑到10kV 并联电容器组停电预试时，每一台均需拆线（高压熔丝）测量电容量，而电容器的数量较大，耗费较多的人力和时间，故也纳入本项目研究解决。项目研究的主要内容有： 500kV主变不拆线进行绝缘电阻、介损等项目的测量； CVT在不拆线时介损的试验方法及判断标准； MOA在不拆线时的直流泄漏电流的试验方法及判断标准； 10kV 电容器组不拆引线进行逐台电容器的电容量测量。 500kV主变不拆线试验方法研究 1、试验情况分析 罗洞站共有9台主变，全部为单相自耦变压器。高、中压侧（500kV、220kV）为同一绕组，不拆高压引线时高压侧与CVT、MOA连在一起；低压侧（35kV）三相通过硬母线接成三角形接线。以往预试时需拆除主变本体的各电压侧的引线，现进行的不拆线方案，只是不拆500kV侧套管的高压引线（对于220kV套管引线，理论上可以不拆线进行试验，但由于其到220kV场地距离过远，出于安全方面考虑，且拆线难度不大，故试验时也进行拆线），35kV及中性点套管则是一定要拆线才能进行。 2、技术关键和重点解决的技术问题 对于500kV主变，重点要解决的技术问题是高、中压侧的绝缘特性测量（本体介损和绝缘电阻）。 高、中压侧本体介损测量 常规的反接法试验时低压侧及铁芯接地，将高压侧地刀拉开，连CVT、MOA一起进行试验。该接线方式的优点是测量接线较简单，缺点是在高压侧试验时将包括较多设备，试验数据（tanδ和电容Cx）不能真实反映主变的绝缘状况，只能以历次比较为主。 我们进行的是用分解测量的方法。常规的高、中压侧介损可分解为高中压绕组对铁芯，高中压绕组对低压绕组，高中压绕组对外壳三部分。前二部分均可用正接法试验。 表1 罗洞站#1主变A相拆线状态下不同接线方式介损测试结果 序号 拆线方式 测量部位 其他部位 接线方式 tanδ（%） CX（pF） 1 拆线 高中压绕组对 低压绕组、地 铁芯接地 反接 反接 0.22 8927 2 拆线 高中压绕组对 铁芯 正接 0.26 4841 3 拆线 高中压绕组对 低压绕组 正接 NA 41.6 4 拆线 高中压绕组对 外壳地 低压绕组、铁芯接屏蔽 反接屏蔽 0.18 4045.1 5 拆线 低压绕组对 高中压绕组 正接 NA 41.4 备注 1、试验介损仪：美国DOBLE公司的M4000，为目前世界上最先进的介损仪之一。 2、表中“NA”表示“no answer”，即检测不到信号，出现在高中压绕组和低压绕组之间部位，表明高中压绕组和低压绕组之间无直接电容耦合，其原因是500kV单相自耦变压器高中压绕组与低压绕组之间有屏蔽板将信号屏蔽。因而高、中压侧介损实际上只是包括高中压绕组对铁芯，高中压绕组对外壳二部分。 3、正接线时其他部位接线方式对试验结果无影响。 根据电容并联公式C总=C1+C2 ， tanδ=（C1* tanδ1+C2* tanδ2）/（C1+C2），从表中可得到，序号1的试验结果等于序号2和序号4的试验结果之叠加，这也验证了分解测量方法的可行性和准确性。 我们继续进行不拆线的分解测量方法，以罗洞站#1主变B相为例，试验结果见表2。 表2 罗洞站#1主变B相不拆线状态下介损测试结果 序号 拆线方式 测量部位 其他部位 接线方式 tanδ（%） CX（pF） 1 不拆线 高中压绕组对 低压绕组、地 铁芯接地，500kVMOA、CVT接屏蔽 反接 反接屏蔽 0.36 9744 2 不拆线 高中压绕组对 铁芯 正接 0.58 4911 3 不拆线 高中压绕组对 外壳、地 低压绕组、铁芯和500kVMOA、CVT接屏蔽 反接 反接 反接屏蔽 0.14 4788 备注 500kV CVT、MOA屏蔽点均接在第一节下端。 采用M4000介损仪试验时试验方