简并半导体形成的PN结,在热平衡时, N区导带底被电子占据的概率 P区价带顶被电子占据的概率 N区和P区被耗尽层分割,N区自由电子不能进入P区复合。 当正偏时,外加加压减小了耗尽层厚度,当外加电压为Eg时,耗尽层消失,P区和N区接触。 粒子数反转: 当加在PN结上的正向电压超过某一值(eVEg)后,PN结的某段区域中导带底的电子数大于价带顶电子数,出现粒子数反转。该区域称为增益区(有源区) 。 粒子数反转的理解: 外电场、电子和空穴的注入、扩散、复合。 在PN结的某段区域,自由电子、空穴的浓度同时增大(电子占据导带的概率提高,占据价带的概率减小)。 当电流增加到某个值时,自由电子、空穴的浓度足够大,实现粒子数反转。 常用半导体材料的禁带宽度: Ge、 Si、 GaAs 0.66eV、1.12 eV、1.42 eV GaAs的禁带宽度: 1.42 eV 普朗克常数 h= 6.626068 × 10-34 m2 kg / s e=1.6021892×10-19C P-N 结的厚度仅几十微米; 谐振腔一般是直接利用垂直于P-N 结的两个端面(解理面) GaAs的折射率n=3.6,反射率0.32,另一面镀全反射膜。 法布里-珀罗腔,简记为F-P腔 F-P腔:平行平面腔,它由两块平行平面反射镜组成。又称为法布里-珀罗
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