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两种考虑温度影响的SiCJFET仿真模型-中国电机工程学报.pdfVIP

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  • 2019-06-07 发布于天津
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两种考虑温度影响的SiCJFET仿真模型-中国电机工程学报.pdf

    第卷第期中国电机工程学报年月日文章编号中图分类号两种考虑温度影响的仿真模型王莉娜邓洁北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院北京市海淀区引言与基功率开关器件相比新出现的基功率开关器件具有更强的耐压更大的电流密度更高的工作耐受温度和更快的开关速度其技术发展为高效率高功率密度和高可靠电力电子系统的技术进步提供了新的契机功率开关器件中凭借结构及制作工艺上的优势率先在商业领域得到了发展成为当前发展最成熟的全控器件之一的建模测试和应用成为当今的研究热点建立准确易用的器件仿真模型准确模拟正常和故障过程的器件

    第 38 卷 第 2 期 中 国 电 机 工 程 学 报 Vol.38 No.2 Jan. 20, 2018 562 2018 年 1 月 20 日 Proceedings of the CSEE ©2018 Chin.Soc.for Elec.Eng. DOI ：10.13334/j.0258-8013.pcsee.170140 文章编号：0258-8013 (2018) 02-0562-11 中图分类号：TM 85 两种考虑温度影响

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