SPC管理规定培训资料.doc

1、目的 在相关的过程使用控制图和计算过程能力指数，确保过程具有能力，从而预防缺陷的产生。 2、范围 适用于控制计划中规定的过程。 3、定义 3.1 -R图：均值和极差图 3.2 Ppk：初始能力指数 3.3 Cpk：过程能力指数 3.4 5M1E：人员、机器、材料、方法、环境及测量 4、职责 4.1 技术开发部在控制计划中规定使用控制图的过程，品保部进行过程的初始研究，计算Ppk值。 4.2 品保部负责控制图（如-R图或P图）的使用和Cpk值的计算。 4.3 人力资源处负责控制图的相关使用人员的培训。 5、内容 5.1 说明 本作业指导书规定使用的控制图特指-R图。其它控制图的使用方法参见《统计过程控制（SPC）》参考手册。 5.2 控制图格式 采用美国三大汽车公司之标准格式，见—R控制图，若有客户要求时，则采用客户的规定格式。 5.3 描绘控制图的具体步骤 5.3.1 收集数据 5.3.1.1 选择子组大小、频率和数据 子组大小 本公司的-R图的子组大小为2~5，即每次连续抽2~5个产品。 子组频率 按控制计划要求。 子组数的大小 一般情况下，为25组以上。 5.3.1.2 建立控制图及记录原始数据。 由控制图使用者将相关的日期/时间/读数/均值（）/极差（R）等记录于-R控制图 中。 5.3.1.3 计算每个子组的均值（）和极差（R） 按下列公式计算，并将结果记录于-R控制图 中的相关栏位。 ，n为子组的样本容量 R=X最大值 – X最小值 5.3.1.4 选择控制图的刻度 对于图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值（）最大值与最小值差的2倍。 对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 5.3.1.5 将均值和极差R画到控制图上。 5.3.2 计算控制限 5.3.2.1 计算平均极差（）及过程平均值（） K为子组的数量 5.3.2.2 计算控制限 UCLR=D4 UCL=+A2 LCLR=D3 LCL=-A2 式中之D4、D3及A2为常数，见-R控制图 。 5.3.2.3 画控制线 在平均值（）和极差图（R）中用水平虚线将各自的控制限画上去，在初始研究阶段，这些控制限叫试验控制限。 5.4 过程控制解释 5.4.1 分析极差图（R图）上的数据点 a、超出控制限的点——出现一个或多个点超出任何一个控制限，是该点处于失控状态的主要证据。因为在只存在普通原因引起变差的情况下，超出控制限的点会很少，我们便假设该超出的是由于特殊原因造成的。因此，任何超出控制限的点是立即进行分析、找出存在的特殊原因点的信号。 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： ? 控制限计算错误或描点时描错； ? 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），? 这种增大可以发生在某个时间点上，? 也可能是整个趋势的一部分； ? 测量系统变化（例如，? 不同? 的检验员或量具）； ? 测量系统没有适当的分辨力。 有一点位于控制限之下（对于样本容量大于等于7的情况），说明存在下列情况的一种或几种： ? 控制限或描点错误； ? 分布的宽度变小（即变好） ? 测量系统已改变（包括数据编辑或变换） b、链—有下列现象之一表明过程已改变或出现这种趋势： ? 连续7点位于平均值的一侧； ? 连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降； 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部： ? 输出值的分布宽度增加，? 其原因可能是无规律的（例如设备? 工作不? 正常或固定松动）或是由于过程中的某个要素变化（例如，? 使用新的不? 是很一致的原材料），? 这些都是常见的问题，? 需要纠正； ? 测量系统改变（例如，? 新的检验员或量具） 低于平均极差的链，或下降链表明存在下列情况之一或全部： ? 输出值分布宽度减小，? 这常常是一个好状态，? 应研究以便推广应用和改进过程； ? 测量系统改变，? 这样会遮掩过程真实性能的变化。 注：当子组数（n）变得更小（5或更小）时，低于的链的可能性增加，则8点或更多点组成的链才能表明过程变差减少。 c、明显的非随机图形： 各点与的距离：一般地，大约2／3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内，大约1／3的点落在其外的三分之二的区域。 如果显著多于2／3以上的描点落在 离很近之处（对于25个子组，如果超过90％的点落在控制限三分之一的区域），则应对于下列情况的一种或更多进行调查： ? 控制限或描点已计算错或描错； ? 过程或取样方法被分层；每个子组系统化包含了从两个或多个