光学显微镜家族的新秀.pptVIP

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显 微 镜 的 应 用 04物理 付凯 显微镜的发展 1590年,荷兰和意大利的眼镜制造者已经造出类似显微镜的放大仪器。1610年前后,意大利的伽利略和德国的开普勒在研究望远镜的同时,改变物镜和目镜之间的距离,得出合理的显微镜光路结构   1665年前后,胡克在显微镜中加入粗动和微动调焦机构、照明系统和承载标本片的工作台。 1673~1677年期间,列文胡克制成单组元放大镜式的高倍显微镜,其中九台保存至今。胡克和列文胡克利用自制的显微镜,在动、植物机体微观结构的研究方面取得了杰出成就。 19世纪,高质量消色差浸液物镜的出现,使显微镜观察微细结构的能力大为提高。 1827年阿米奇第一个采用了浸液物镜。 19世纪70年代,德国人阿贝奠定了显微镜成像的古典理论基础。这些都促进了显微镜制造和显微观察技术的迅速发展,并为19世纪后半叶包括科赫、巴斯德等在内的生物学家和医学家发现细菌和微生物提供了有力的工具。 1850年出现了偏光显微术;1893年出现了干涉显微术;1935年荷兰物理学家泽尔尼克创造了相衬显微术,他为此在1953年获得了诺贝尔物理学奖。 显微镜的重要光学技术参数 1.?数值孔径:(NA)是物镜前透镜与被检物体之间介质的折射率(n)和孔径角(u)半数的正弦之乘积。用公式表示如下:NA=nsinu/2 2.?分辨率:是指能被显微镜清晰区分的两个物点的最小间距,又称鉴别率。其计算公式是σ=λ/NA 式中σ为最小分辨距离;λ为光线的波长;NA为物镜的数值孔径。 3.?放大率和有效放大率由于经过物镜和目镜的两次放大,所以显微镜总的放大率Γ应该是物镜放大率β和目镜放大率Γ1的乘积: Γ=βΓ1 4.?焦深:焦深为焦点深度的简称,即在使用显微镜时,当焦点对准某一物体时,不仅位于该点平面上的各点都可以看清楚,而且在此平面的上下一定厚度内,也能看得清楚,这个清楚部分的厚度就是焦深。焦深大,?可以看到被检物体的全层,而焦深小,则只能看到被检物体的一薄层,焦深与其他技术参数有以下关系: (1)?焦深与总放大倍数及物镜的数值孔径成反比。 (2)?焦深大,分辨率降低。 5.?视场直径(Field?Of?View):观察显微镜时,观察显微镜时,所看到的明亮的圆形范围叫视场,它的大小是由目镜里的视场光阑决定的。 ?F=FN/β 式中F:?视场直径,FN:视场数(Field?Number),标刻在目镜的镜筒外侧),β:物镜放大率。 (1)?视场直径与视场数成正比。 (2)?增大物镜的倍数,则视场直径减小。因此,若在低倍镜下可以看到被检物体的全貌,而换成高倍物镜,就只能看到被检物体的很小一部份 6.?覆盖差 : 显微镜的光学系统也包括盖玻片在内。由于盖玻片的厚度不标准,光线从盖玻片进入空气产生折射后的光路发生了改变,从而产生了相差,这就是覆盖差。国际上规定,盖玻片的标准厚度为0.17mm,许可范围在0.16-0.18mm 7.?工作距离WD工作距离也叫物距,即指物镜前透镜的表面到被检物体之间的距离。镜检时,被检物体应处在物镜的一倍至二倍焦距之间。 电子显微镜 电子显微镜(简称电镜)。由于电子的德布罗意波波长比光波短几个量级,所以电镜具有高分辨成像的能力。首先发明的是透射电镜,由M.诺尔和E.鲁斯卡于1932年发明并突破了光学显微镜分辨极限。 一、电镜类别 1、? 透射电镜 (TEM) =Transmission Electron Microscope 样品必须制成电子能穿透的,厚度为100~2000 ?的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似,只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来。图1 透射电子显微镜的光路示意图是其光路示意图。TEM的分辨本领能达 3 ?左右。在特殊情况下能更高些。   (1)超高压电镜 (HVEM) =High Voltage Electronic Microscope 是一种TEM,不过常用的 TEM加速电压为 100 kV。只能穿透几千埃厚的样品。电子的穿透能力随 ?2 = v2/c2 ( 电子速度与光速之比 )而增。由于相对论性效应,?2在 500 kV以上增加得就很慢了。目前有200 kV、300 kV和1000 kV的商品电镜。法国和日本有3000 kV的特制电镜。HVEM除加速筒以外与一般 TEM相似,只是尺寸放大了。1000 kV的电镜有两层楼高。放大尺寸后,样品周围空间增大,便于安置各种处理样品的附件,如拉伸、加热、冷却、化学反应等副件,并能把它们与倾斜样品台结合起来;还可以做动态观察,用电视记录样品处理过程中的变化。高能量的电子能造成样品中的辐射损伤,这对研究材料辐

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