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湿度环境下关于薄膜电阻的稳定性测试  关键词：薄膜电阻,漂移水平,HAST 测试,偏置湿度 在以往的论文里，提到过薄膜电阻的阻值随时间变化而发生漂移的现象，描述的是在“干热” 条件下发生的情况。然而，在相对湿度较高的地方或应用里使用电子设备时，对元器件的可 靠性来说仍然是一个挑战。因此，行业标准AEC-Q200 要求在偏置湿度测试85℃/ 85 % RH 条件下，也要对无源元件进行测试。通过认证的薄膜电阻采用了适当的稳定R 层和电绝缘 漆，能够通过85 / 85 测试。 会出现下面这些问题： （1）通过1000 小时的偏置85 / 85 测试，对实际当中应用的薄膜电阻意味着什么？ （2 ）在一定的负载和环境条件下，是否有可能通过使用经过一定时间之后的85 /85 测试数 据或HAST 数据，预测在最坏情况下的电阻漂移？ 要回答这些问题和其他与测试有关的问题，我们对电阻在40°C / 93 % RH 和85°C / 85 % RH 的工作情况，以及常用的标准测试情况，进行了长时间的实验对比。在大约0.5%和10% 的最大标定工作功率下，使用我们最灵敏的薄膜电阻层系统，将这些试验的时间延长到4000 小时。除此以外，我们还进行了70°C / 90 % RH，90°C / 40 % R