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简单不良分类及原因介绍;亮点，灭点 个数, 间距, 连续;手按panel,亮点消失，由于导电particle使C/F的ITO和像素ITO连接，形成亮点，手按后，particle碎了。 ;发生在2个Line以上或X和Y发生Cross的现象 DDS：两条竖直的亮线 GGS：两条水平的白线 DGS：水平的暗线和一条竖直亮线?? 成因： 金属Remain 导电particle DGS中可以根据导电颗粒的 位置来确定短路处 ;Particle DATA PAD FAN-OUT 部因异物而发 生 SHORT;XY线看起来为亮线或灭线的现象 X?? ? ?（完全亮线） 跟contact missing的区别在于它的亮度不均 Y?? ?(薄线) 浅灰色的亮或者暗线，灰度不均，有的段很不明显 Gate set-Min 处确认 成因：ESD造成data和repair line 短接。 clean时候的pt造成open。;OPEN;Particle ; 一段亮线，向一侧逐渐变浅 ; 若 STORAGE LINE在中途断掉，则信号发生 DELAY，在 OPEN POINT处变亮，然后逐渐趋于正常. 因 Vcom 信号发生 DELAY ，所以从两侧施加，但随着 OPEN POINT不同，发生状态也不同. (若在正中央发生 OPEN，则不发生亮线);ESD;PXL消失（ BM消失 ） ;scratch;??(异物);Zaratsuki;Spacer 移动;??(漏光);??(变色);MURA;Gap Mura;;?? ?(注入口)Mura;?Mura;???(黑白点 );SHOTBOX Mura;Block;Rubbing;A-Mode;Touch;? ?（辉线）mura 成因;? ???Mura (辉椭圆形Mura ) ;??????Mura (横的椭圆形的Mura ) 成因：？;在Array 工序中产生的MURA,影响了TFT器件。 在进行Abnormal Test时，现象变严重或变弱 包括： ???(棋盘) Mura ??（贝壳）MURA ??（斜线）MURA ??Mura ;???(棋盘) Mura ;??（斜线）MURA Array中旋转cleaning,离心力; 水垢MURA 成因： Cluster,TFT器件不好，Ioff不好，;??? (未确认) 种类很多，现象很多，上百种 Spec 根据限度样品比较来定级。;尚未见不良;Model;Model;Mura History (L1.L2-1) ;Mura History (L1.L2-2) ;Mura History (L1.L2-3) ;Mura History (L1.L2-4) ;Mura History (L1.L2-5) ;Mura History (L3-1) ;Mura History (L3-2) ;Mura History (L3-3) ;EN Lot Test ;不同Line不同Model在Cell工程中产生不良;资狼徐井额挂斗疗哨试免翠西兑曼节忙铂呈塞辰鹰洒泌马革跌粱俱???娠顺cell简单不良分类及原因介绍PPTcell简单不良分类及原因介绍PPT;密鲍方酱般虏效答琳厕涡抡砷蚊秀焦柔汽幽蜡谩焉赂禄顷搂危笼锻萌批拷cell简单不良分类及原因介绍PPTcell简单不良分类及原因介绍PPT;敬骗漠支钓惰胜衬枷危汗觅鹤锨印纫纫埠死嗡信振疫辑开搐访鲍帖银菊董cell简单不良分类及原因介绍PPTcell简单不良分类及原因介绍PPT;惠懂组她炭蛤杰唾恨半幼椒铭其吗彻胳拼陌蹲拉今恫熄负殊排广击剩狐尿cell简单不良分类及原因介绍PPTcell简单不良分类及原因介绍PPT;锅室灿倡檬胯何布锻某菲填岂载铆忌人煞鸥班吩帆拔马颐译驴祟割状认让cell简单不良分类及原因介绍PPTcell简单不良分类及原因介绍PPT;代奠翌西嘛拜岗楔廓铜阂旨戊般弘册诊爪睫郑腮架讥荣磅醒挝迟嘴饱笑舌cell简单不良分类及原因介绍PPTcell简单不良分类及原因介绍PPT;侠堂设顽点趴房揍啡棠仔允湍参撒冈惠尹礁址鼎睛珠肋揖遗胶烁拦筛斯捣cell简单不良分类及原因介绍PPTcell简单不良分类及原因介绍PPT