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ITO/CuPc/NPB/d-Alq/Mg:Ag 黃國柱實驗室 白光元件 鄭建鴻實驗室 鄭建鴻實驗室 4.7 5.1 5.8 3.7 3.1 2.9 Alq3 MEH- PPV Mg:Ag ITO Device C 4.7 5.1 5.8 3.7 3.1 2.9 Alq3 MEH- PPV Mg:Ag ITO Device D 2.7 6.2 TPBI 4.7 5.1 2.9 MEH- PPV ITO Device A Heeger’s result (1991) Ca as cathode, ?ext ~1 % Al as cathode, ?ext ~0.001 % 2.9 (Ca) 4.3 (Al) Device ID Thickness (nm) Vto (V) Vdec (V) ?ext (%) Lum (cd/m2) MEH-PPV TPBI Alq3 at 100 mA/cm2 Max. of ?ext at 100 mA/cm2 Max. of Brightness B 60 -- -- 3.3 15.0 0.01 0.02 35 760 C 60 -- 40 4.5 19.5 0.48 0.49 1350 12177 D 50 10 40 3.8 22.0 0.81 0.81 2200 19283 4.7 5.1 5.8 4.3 3.1 2.9 Alq3 MEH- PPV 60nm Al ITO Choi et al, (1998) Maximum brightness 100 cd/m2 50nm 4.7 5.1 5.8 4.3 3.1 2.9 Alq3 MEH- PPV 70nm Al ITO Jin et al, (2000) Maximum brightness 100 cd/m2 82nm Literature results Device B 4.7 5.1 3.7 2.9 MEH- PPV ITO Mg:Ag 新型高分子發光材料及其元件 韓建中實驗室 Pani-MEA 4.7 5.1 5.8 3.7 3.1 2.9 3.4 4.9 Alq3 MEH- PPV Mg:Ag ITO Device ID Structural difference Vto (V) Vdec (V) ?ext (%) Lum (cd/m2) EL characteristics ?max; CIE index at 8V at 100 mA/cm2 Max. of ?ext at 100 mA/cm2 Max. of Brightness E With Pani-MEA (5nm) 4.1 20.5 0.64 0.64 1800 15022 581 nm; (0.54, 0.46) F Without Pani-MEA 3.8 19.5 0.35 0.41 1000 12939 584 nm; (0.55, 0.45) 韓建中實驗室 Device ID Structural difference Vto (V) Vdec (V) ?ext (%) Lum (cd/m2) EL characteristics ?max; CIE index at 8V at 100 mA/cm2 Max. of ?ext at 100 mA/cm2 Max. of Brightness G With Pani-MEA (2nm) 4.3 19.0 2.10 2.15 7400 25724 522 nm; (0.28, 0.58) H Without Pani-MEA 3.3 16.5 1.01 1.09 3450 17976 522 nm; (0.27, 0.58) Pani-MEA 4.7 5.7 5.8 3.7 3.1 2.6 3.4 4.9 Alq3 NPB Mg:Ag ITO 韓建中實驗室 金屬氧化物薄膜的製作及應用研究 Formula Mp.(oC) TG/DTA(%) Yield(%) Sublimation condition Ru-A4 Ru(nbd)(tmhd)2 126 99.6 60 65 oC /139 mtorr Ru-A5 Ru(nbd)(tfac)2 67,90,110 96.7 45 60 oC /140 mtorr Ru-A6 Ru(nbd)(hfac)2 82 97.0 55 45 oC /150 mtorr RuA4 RuA5 RuA6 釕金屬前驅物合成 季昀實驗室 Thickness : 280 nm Resistivity : 15.7 μΩ-cm Composition : Ru : 98.2 / O : 1.8% 釕金屬
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