塑封微电路(PEM)应用于高可靠领域的风险及对策.pdfVIP

下载本文档

9
0
约1.02万字
约 9页
2019-06-30 发布于四川
举报
版权申诉

塑封微电路(PEM)应用于高可靠领域的风险及对策.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

来萍恩云飞牛付林中国电子产品可靠性与环境试验研究所电子元器件可靠性物理及应用技术国家级重点实验室广州市东莞庄路110号，510610 摘要：本文从塑封徽电路的物理性能和主要可靠性问题出发，介绍了将P蹦应用于高可靠领域(如航空、航天、军用)中可能产生的风险，探讨了为将低使用风险而采用的升级筛选、质量鉴定以及可靠性评价等方法和技术手段．关键词：塑封微电路(PP．M)、升级筛选、质量鉴定、可