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ISO/TS16949五大核心管理工具;五大核心管理工具的来由;五大核心工具与ISO/TS 16949:2002关联;五大核心工具与ISO/TS 16949:2002关联;五大核心工具与ISO/TS 16949:2002关联;五大核心工具与ISO/TS 16949:2002关联;五大核心工具与ISO/TS 16949:2002关联;五大核心工具与ISO/TS 16949:2002关联;APQP及PPAP介绍;什么是APQP?( Advanced Product Quality Planning);为什么要做APQP?;在APQP中会有哪些问题?;APQP的目标:;APQP责任矩阵图;APQP总结;控制计划;什么是PPAP?( Production Part Approval Process);PPAP目的;PPAP适用性;PPAP中包括的相关内容;哪些情况PPAP需要完全批准?;PPAP的过程要求-重要的生产过程;PPAP的过程要求-重要的生产过程;PPAP要求-18项文件;什么是SPC?( Statistical Process Control);什么是SPC?;什么是SPC?;什么是SPC?;什么是SPC?;什么是‘统计’?;什么是‘统计’?;什么是‘统计’?;什么是‘制程’?;统计的制程控制?;SPC的目的;SPC的目的与品管工具;有关统计过程的术语;有关统计过程的术语;有关统计过程的术语;SPC中的常态分布及变差理论;均值和极差图(Χ – R图);均值和极差图(Χ – R图);均值和极差图(Χ – R图);均值和极差图(Χ – R图);均值和极差图(Χ – R图);其他各类控制图;SPC与持续改进概述;1. 什么是FMEA( Potential Failure Mode and Effects Analysis);1.2 FMEA的目的;1.3 FMEA的益处;1.3 FMEA的益处;1.4 FMEA的适用范围;1.4 FMEA的适用范围;1.4 FMEA的适用范围;1.4 FMEA的适用范围;1.4 FMEA的适用范围;1.5 FMEA的时机;1.5 FMEA的时机;1.5 FMEA的时机;1.5 FMEA的时机;1.5 FMEA的时机;1.5 FMEA的时机;3.0 DFMEA的运用-DFMEA样表;严重度(S)评价准则;DFMEA频度评价准则(O) ;DFMEA探测度评价准则(D);1.1 什么是测量系统分析(MSA);1.1 什么是测量系统分析(MSA);1.1 什么是测量系统分析(MSA);1.1 什么是测量系统分析(MSA);1.2 测量系统分析的目的;1.2 测量系统分析的目的;1.2 测量系统分析的目的;1.2 测量系统分析的目的;1.2 测量系统分析的目的;1.3 测量系统误差的影响;1.3 测量系统误差的影响;1.3 测量系统误差的影响;1.3 测量系统误差的影响;1.3 测量系统误差的影响;1.3 测量系统误差的影响;1.3 测量系统误差的影响;1.3 测量系统误差的影响;1.4 MSA的适用范围;1.4 MSA的适用范围;1.5 MSA的时机;1.5 MSA的时机;1.5 MSA的时机;1.5 MSA的时机;2.1 MSA与过程方法(0.2);2.1 MSA与过程方法(0.2);3.1 标准与溯源性;3.1 标准与溯源性;3.1 标准与溯源性;3.1 标准与溯源性;3.2.1 分辨力,可读性,分辨率,有效分辨率;3.2.1 分辨力,可读性,分辨率,有效分辨率;3.2.1 分辨力,可读性,分辨率,有效分辨率;3.2.1 分辨力,可读性,分辨率,有效分辨率;3.2.1 分辨力,可读性,分辨率,有效分辨率;3.2.1 分辨力,可读性,分辨率,有效分辨率;3.2.2 基准值,真值 ;3.3 位置变差;3.3.1 准确度;3.3.1 准确度;3.3.2 偏倚;3.3.2 偏倚;3.3.3 稳定性(漂移);3.3.3 稳定性(漂移);3.3.4 线性;3.3.4 线性;3.4 宽度变差;3.4.1 精密度;3.4.1 精密度;3.4.2 重复性;3.4.2 重复性;3.4.3 再现性;3.4.3 再现性;3.4.4 GRR或量具RR;3.4.4 GRR或量具RR;3.4.5 测量系统能力;3.4.5 测量系统能力;3.4.6 测量系统性能;3.4.7 灵敏度;3.4.7 灵敏度;3.4.7 灵敏度;3.4.7 灵敏度;3.4.8 一致性;3.4.8 一致性;3.4.9 均一性(均匀性);3.4.9 均一性(均匀性);3.5 系统变差:;3.5.1 测量系统能力 ;3.5.2 测量系统性能;3.5.3 测量系统不确定度;3.5.3 测量系统不确定度;4.0 简单的测量系统研究和应用;4.1.
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