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基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理
内容列表
AEC-Q101 基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理
附录1: 认证家族的定义
附录2: Q101 设计、构架及认证的证明
附录3: 认证计划
附录4: 数据表示格式
附录5: 最小参数测试要求
附录6: 邦线测试的塑封开启
附录7: AEC-Q101与健壮性验证关系指南
附件
AEC-Q101-001: 人体模式静电放电测试
AEC-Q101-002: 人体模式静电放电测试 (废止)
AEC-Q101-003: 邦线切应力测试
AEC-Q101-004: 同步性测试方法
AEC-Q101-005: 静电放电试验–带电器件模型
AEC-Q101-006: 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
感谢
任何涉及到复杂的技术文件都来自于各个方面的经验和技能。为此汽车电子委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重大贡献的人：
固定会员:
Rick Forster Continental Corporation
Mark A. Kelly Delphi Corporation
Drew Hoffman Gentex Corporation
Steve Sibrel Harman
Gary Fisher Johnson Controls
Eric Honosowetz Lear Corporation
技术成员:
James Molyneaux Analog Devices
Joe Fazio Fairchild Semiconductor
Nick Lycoudes Freescale
Werner Kanert Infineon
Scott Daniels International Rectifier
Mike Buzinski Microchip
Bob Knoell NXP Semiconductors
Zhongning Liang NXP Semiconductors
Mark Gabrielle ON Semiconductor
Tom Siegel Renesas Technology
Tony Walsh Renesas Technology
Bassel Atallah STMicroelectronics
Arthur Chiang Vishay
Ted Krueger [Q101 Team Leader]Vishay
其他支持者:
John Schlais Continental Corporation
John Timms Continental Corporation
Dennis L. Cerney International Rectifier
Rene Rongen NXP Semiconductors
Thomas Hough Renesas Technology
Thomas Stich Renesas Technology
本文件是专门的纪念：
Ted Krueger (1955-2013)
Mark Gabrielle (1957-2013)
注意事项
AEC文件中的材料都是经过AEC技术委员会准备、评估和批准的。
AEC文件是为了服务于汽车电子工业，无论其标准是用在国内还是国际上，都可排除器件制造商和采购商之间方面的不一致性，推动产品的提高和可交换性，还能帮助采购商在最小的时间耽搁内选择和获得那些非AEC成员的合适的产品。
AEC文件并不关注其采纳的内容是否涉及到专利、文章、材料或工艺。AEC没有认为对专利拥有者承担责任，也没有认为要对任何采用AEC文件者承担义务。汽车电子系统制造商的观点主要是AEC文件里的信息能为产品的说明和应用
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