功能粉体材料制备—3.pptVIP

X-optical electron spectrum 测定原理 将样品表面用X射线照射后，原子的内层电子被激发，从样品表层释放光电子。通过测定被释放出的光电子运动能，可以鉴定试验材料表面所存在的元素，分析其化学合成情况。 X-optical electron spectrum 通过测定物质的表层(约10nm)，可以获得物质表层的构成元素和化学结合状态等方面的信息。 解析基板表层附着物 解析金属薄膜等的氧化状态 计算自然氧化膜厚度 评价金属材料的腐蚀 测定磁盘润滑膜厚度 解析各种反应生成物 测定薄膜、包装材料等的表层重整 X-optical electron spectrum 粉末比表面分析(BET) 方法及原理 在定温下，测定不同相对压力时的气体在固体表面的吸附量后，基于布朗诺尔-埃米特-泰勒（BET）的多层吸附理论及其公式可计算出固体的比表面积，基于凯尔文的毛细管凝理论及其公式，惠勒关于综合考虑毛细管凝聚和多层吸附的理论，原则上便可以计算出固体精细比表面积。 TG and DTA、DSC 确定粉末发生分解或氧化的温度 确定粉体含水量 确定粉末发生晶型转变的温度 TG and DTA、DSC TG DTA Others Tap density Apparent density Heat shrink Fluidity Determi