第四章-偏光显微镜下的晶体光学性质.pptVIP

第*页 干涉图锐角区为一级灰白，用石膏板补色器 干涉图锐角区有干涉色带，用云母板补色器 若干涉色带过多过密，加入石英楔，干涉色升高为色圈内移，降低为色圈外移。 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 补色器的选用 首 页 2．垂直一个光轴的切面的干涉图 相当于垂直Bxa干涉图的一半，光轴出露点位于视域中心 光轴与上下偏光之一平行时，出现一条黑臂及干涉色 转物台，黑臂弯曲。45°位，黑臂曲率最大点为光轴出露点，位于视域中心，凸向Bxa，再转45°，变为一竖向  成因与垂直Bxa干涉图相同 光性正负的测定测光性时，将物台转45度，黑臂凸向Bxa，根据切面测定方法测之。 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 第*页 首 页 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 在光轴面方向与上、下偏光方向成45°时，黑带的弯曲程度与光轴角大小成反比。光轴角越大，黑带越直 2V＝0°时，黑带成直角； 2V＝90°时，黑带成一直带 利用垂直光轴的干涉图估计光轴角的大小 2V介于0°～90°之间，黑带弯曲度介于90°到直带 对2V粗略估计，此法简便，但不很精确 假定折射率平均为1.60 第*页 首 页 首 页 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 利用垂直光轴的干涉图估计光轴角的近似值 显微镜下测的光轴角，称为视光轴角，往往比2V大，符号2E 求得2E后可算出2V值。根据折射定律可得到以下的关系： 光轴出露点距离2D可用显微尺量出，2D与2E间的关系式如下 D＝KsinE 式中，K为常数，其大小取决于显微镜的透镜系数 第*页 斜交切面是极常见的情况，其干涉图与前两者类似，仅视域中心有偏移 （1）半斜交(垂直光轴面)切面： 当光轴迹线与AA或PP平行，黑臂直，过视域中心； 45°位，顶点偏离视域中心，若入射光与光轴夹角不大时，弯曲黑臂顶点仍在视域内 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 3．斜交光轴切面的干涉图 第*页 首 页 （2）与光轴面及光轴斜交的切面： 光轴面迹线与AA或PP平行，黑臂直，顶点不在视域中心 45°位，若光轴倾角不大，弯曲黑臂顶点仍在视域内 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 3．斜交光轴切面的干涉图 第*页 首 页 光轴面与AA或PP平行，干涉图为模糊粗黑十字。四象限一级灰干涉色。若双折射率很大，出现稀疏色环 转动物台45度，黑十字迅速分裂成双曲线沿光轴方向逸出视域。若2V很大，两光轴间钝角与锐角相近，垂直Bxa与垂直Bxo的干涉图不易区别 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 4．垂直钝角平分线切面干涉图 第*页 首 页 转动物台，根据黑臂退出视域的规律判断出光轴方向 45°位，视域最亮 视域中心为Bxo。垂直光轴面迹线为Nm,与光轴面一致的是Bxa的投影方向。 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 4．垂直钝角平分线切面干涉图 插入适当试板，根据干涉色的变化，便可确定Bxa是Ng还是Np，确定出晶体的光性。 第*页 首 页 干涉图与一轴晶平行光轴切面的干涉图相似，当Bxa或Bxo平行AA或PP时，为模糊粗黑十字。 转物台，黑十字分裂,迅速沿Bxa方向退出视域， 45°位，视域最亮，若Ng－Np很大，可出现干涉色，正光性时,在Bxo方向干涉色高，Bxa方向干涉色低 这种干涉图只能确定切片方向，一般不用于测光性 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 5．平行光轴切面干涉图 第*页 首 页 首 页 第4节 锥光镜下的晶体光学性质 四、光率体色散 白光照明下，晶体光率体的大小、形状随光波不同而变化的现象，称为光率体色散 等轴晶系：各单色光所构成的光率体形状、光性方位均无变化，仅光率体半径大小不同。 一轴晶：各单色光所构成的光率体都以Z轴旋转的旋转椭球，光性方位是一致的，但Ne和No大小各不同，光率体大小和形状发生变化。 二轴晶：各色光的主折射率不同，且Ng、Nm、Np的变化大小不等，光率体大小、形状均发生变化，而引起了光轴位置、光轴角大小的变化 第*页 均质体：各个方向切面全消光 非均质体：仅垂直光轴切面全消光 均质体：观察晶形、解理、突起等级、颜色、等 非均质体：观察晶形、解理、突起等级、闪突起、颜色、多色性、测定解理夹角等 第5节 透明矿物的系统鉴定 ⑴ 区分均质体和非均质体 一、透明矿物的系统鉴定的内容 单偏光 正交偏光 第*页 首 页 在正交偏光下观察消光类型、双晶、延性符号等 选择垂直光轴切面，锥光下确定轴性测定光性符号 选择平行光轴或平行光轴面的切面，正交偏光下测定 最高干涉色级序、最大双折率和消光角的大小。 有色矿物，观察No、Ne或Ng、Np等颜色。写出多色性和吸收性公式 系统测定光学性质后，查阅有关资料，定出矿物名称 第5节 透明矿物的系统鉴定 非均质体透明矿物的系统鉴定的内容 第*页