2012级研究生第三章-放射性测量2012-11-16.pptVIP

三、低能β射线的测量 （四）淬灭及淬灭校正 1.局部淬灭 2.浓度淬灭 3.化学淬灭 被激发的溶剂或闪烁剂分子与样品中的各种成分 或制备样品时添加的一些成分(消化剂,助溶剂)之间 可能会发生碰撞消耗部分能量,这种现象称为化学 淬灭其程度与淬灭物含量和化学结构有关。 三、低能β射线的测量 （四）淬灭及淬灭校正 1.局部淬灭 2.浓度淬灭 3.化学淬灭 4.颜色淬灭 激发的闪烁剂分子退激时,发出的荧光光子 被液体闪烁系统内(包括样品)有色物质吸 收而减少,称为颜色淬灭.不同颜色淬灭影 响程度不同以红、黄最为明显,而兰色 相当影响较小。 三、低能β射线的测量 （四）淬灭及淬灭校正 1.局部淬灭 2.浓度淬灭 3.化学淬灭 4.颜色淬灭 第三章 放射性测量 第三节 放射性样品的测量 （四）淬灭及其校正方法 由于上述各种 淬灭因素的影响， 将导致β能谱向 低端偏移( 左移) 和计数率降低。 由于不同样品的淬灭因素和淬灭程度不同,导致各 样品的实际测量效率不同。须通过实际测得计数率和校 正的测量效率计算出每一个样品放射性核素的衰变率, 确保样品间的可比性,这就称为淬灭校正 (Quench correction)。 第三章 放射性测量 第三节 放射性样品的测量 （四）淬灭及其校正方法 1) 内标准源法 在待测样品的闪烁系统内加入已知放射性活度的同种标准放射性 核素源,并借助其测量效率来确定待测样品的放射性活度。 步骤: ①测量未加样品的闪烁液的本底计数率nb; ②测量各样品计数率nc; ③在各样品瓶内分别加入放射性活度均为A的标准源,再测计数率nm; ④计算探测效率: E=( nm - nc ) / A ⑤计算待测样品的放射性活度: AX = ( nc - nb ) / E 第三章 放射性测量 第三节 放射性样品的测量 （四）淬灭及其校正方法 1) 内标准源法 在待测样品的闪烁系统内加入已知放射性活度的同种标准放射性 核素源,并借助其测量效率来确定待测样品的放射性活度。 步骤: ①测量未加样品的闪烁液的本底计数率nb; ②测量各样品计数率nc; ③在各样品瓶内分别加入放射性活度均为A的标准源,再测计数率nm; ④计算探测效率: E=( nm - nc ) / A ⑤计算待测样品的放射性活度: AX = ( nc - nb ) / E 优 点 缺 点 _________________________________________________________________________________________________________________________________ ★若精心操作,它是最准确的方法; ▲小量内标准放射源的定量吸取 会引起很大误差; ★对严重淬灭是最好的校准方法; ▲ 样品为内标准污染,不能重复使用; ★对支持物上的样品是最好的淬灭校正; ▲ 测量操作费时; ★可同时校正化学淬灭和颜色淬灭; ▲ 校正多标记样品手续复杂,误差大; 第三章 放射性测量 第三节 放射性样品的测量 （四）淬灭及其校正方法 1) 内标准源法 在待测样品的闪烁系统内加入已知放射性活度的同种标准放射性 核素源,并借助其测量效率来确定待测样品的放射性活度。 步骤: ①测量未加样品的闪烁液的本底计数率nb; ②测量各样品计数率nc; ③在各样品瓶内分别加入放射性活度均为A的标准源,再测计数率nm; ④计算探测效率: E=( nm - nc ) / A ⑤计算待测样品的放射性活度: AX = ( nc - nb ) / E 2) 样品道比法 (Sample channel ratio method , SCR ) R=A/B----制备或外购一套标准淬灭源 Ri和Ni----由Ni和标准淬灭源衰变率得测量效率Ei Ei-Ri曲线 Rx获测量效率Ex, nx和nb 样品的放射性活度: Ax=( n x — n b )/Ex 第三章 放射性测量 第三节 放射性样品的测量 （四）淬灭及其校正方法 1 2 3 4 5 6