材料表征技术.ppt

材料表征技术(一) 金灯仁;绪论(一);材料现代分析方法，是关于材料成分、结构、微观形貌与缺陷等的现代分析、测试技术及其有关理论基础的科学。 内容：材料（整体的）成分、结构分析，也包括材料表面与界面、微区分析、形貌分析等 一般原理：通过对表征材料的物理性质或物理化学性质参数及其变化（称为测量信号或特征信息）的检测实现的。即材料的分析原理是指测量信号与材料成分、结构等的特征关系。采用不同测量信号（相应地具有于材料的不同特征关系）形成了各种不同的材料分析方法。;入射线;尺度：埃量级—核外电子结构；微米级的晶粒度。尺度更大的孔隙、裂纹等 结构（或组织结构）（广义）包括从原子结构到肉眼能观察到的宏观结构各个层次的构造状况的通称。原子结构、分子结构、晶体结构、电畴结构等。 微观结构：原子结构、晶体结构、缺陷等原子、分子水平上的构造状况。 显微结构：材料内部不同的晶相、玻璃相及气孔的形态、大小、取向、分布等结构状况。从尺度范围上来讲一般电子显微镜及光学显微镜所观察到的范围。;绪论(二);X射线衍射与电子显微分析 XRD:晶体结构、晶胞参数、晶体缺陷、相等。 局限性：无法形貌观察与晶体结构分析微观同位结 合；微米、纳米级选择性分析 电子显微镜(EM,Electron Microscope)：用高能电子束作光源，用磁场作透镜，高分辨率和高放大倍数 TEM：微观组织形态与晶体结构鉴定（同位分析）；10-1nm,106 SEM:表面形貌，1nm, 2x105, 表面的成分分布 EPMA：SEM、EPMA结合，达到微观形貌与化学成分的同位分析 STEM：SEM+TEM双重功能，+EPMA， 组织形貌观察、晶体结构鉴定及化学成分测试三位一体的同位分析;表4-1 X射线衍射分析方法的应用;元素成份分析（AAS，AES，XRF，EDX） 化学价键分析（IR，LRS） 结构分析（XRD，ED） 形貌分析（SEM,TEM,AFM,STM） 表面与界面分析（XPS，AES，SIMS）;本课程内容与要求; ?1.1 引言 ?1.2 X射线的本质 ?1.3 X射线的产生及X射线管 ?1.4 X射线谱 ?1.5 X射线与固体物质相互作用 ;1.1 引言;X射线衍射（XRD）的应用;Structural analysis for materials research and crystallography;入射线;X射线物理基础、晶体结构;T1-1电磁波谱;电磁波：振动电磁场的传播，可用交变振动着的电场强度向量和磁场强度向量来表征；它们以相同的位相在两个互相垂直的平面上振动，而其传播方向与电场、磁场向量方向垂直，并为右手螺旋法则所确定，真空中的传播速度为3x108m/s;X射线作为一种电磁波，在其传播的过程中是携带一定的能量的，即表示其强弱的程度。通常以单位时间内，通过垂直于X射线传播方向的单位面积上的能量来表示。 当X射线当作波时，根据经典物理学，其强度I与电场强度向量的振幅E0的平方成正比。;1.3 X射线的产生及X射线管;1.3 X射线的产生及X射线管;北京同步辐射装置(BSRF)简介 　　北京同步辐射装置(BSRF)是利用同步辐射光源进行科学研究的装置，对社会开放的大型公用科学设施，是我国凝聚态物理、材料科学、化学、生命科学、资源环境及微电子等交叉学科开展科学研究的重要基地。 ;1.3 X射线的产生及X射线管;1.3 X射线的产生及X射线管;T2-13 连续X射线谱及管电压对连续谱影响 I连积分公式;短波极限 eV=h?max =hc/?0 ?0 =1.24/V (nm) V(kV);T2-15 特征X射线谱及管电压对特征谱的影响;特征X射线产生：能量阈值;特征X射线产生;特征X射线产生;莫塞莱定律;T2-16 K?射线的双重线;产生特征（标识）X射线的根本原因：内层电子的跃迁;1.5 X射线与固体物质相互作用;T2-18 X射线衰减;X射线衰减规律It;m = ? /? [cm2/g] 质量吸收系数：物质固有值 物理意义：单位质量物质对X射线的衰减量。与物质密度和物质状态无关。 ;含多种元素物质的质量吸收系数;图6—4 质量吸收系数(／jm)与 波长(A)关系示意图;3. 俄歇（Auger）效应;物质对X射线的吸收方式;图6—5 按样品的化学成分选靶（a）Z靶Z样 （b）Z靶=Z样+1 （c）Z靶》Z样;1-6 X射线的安全防护;F1-8空间点阵;阵胞与基矢重复单元、相邻结点间距;T1-5布拉菲点阵;F1-9布拉菲点阵阵胞;F1-10点阵基元晶体结构;F1-11晶面晶向;F1-12六方晶面晶向;F1-13干涉指数;1.倒易点阵的定义;FU1-44倒易点阵参数表达式