傅里叶光学第5章 光学成像系统的频率特性.pptxVIP

本章主要内容;0、序 言;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;1、透镜的成像性质;2、成像系统的一般分析;2、成像系统的一般分析;2、成像系统的一般分析;2、成像系统的一般分析;2、成像系统的一般分析;2、成像系统的一般分析;2、成像系统的一般分析;2、成像系统的一般分析;2、成像系统的一般分析;3、衍射受限的相干成像系统的频率响应;3、衍射受限的相干成像系统的频率响应;3、衍射受限的相干成像系统的频率响应;3、衍射受限的相干成像系统的频率响应;3、衍射受限的相干成像系统的频率响应;?;?;?;图5-10　光栅成像的强度分布;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;图5-13 光学传递函数的作用图示;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;4、衍射受限的非相干成像系统的频率响应;?;?;5、像差对成像系统传递函数的影响;5、像差对成像系统传递函数的影响;5、像差对成像系统传递函数的影响;5、像差对成像系统传递函数的影响;图5-24严重离焦时几何光学近似的点扩散函数;1.光栅法 待测光学成像系统的输入为余弦光栅，光强分布为： 其像面光强分布是同频率的余弦条纹： Ii(xi,yi)=HI(0,0)I0+a(fa,fb)m(fa,fb)cos[2π(faxi+fbyi)+?(fa,fb)] 由像相对物的余弦条纹对比度的变化可得到相应频率的MTF值,而由条纹的相移测定 PTF值。 缺点：每次只能测量一个空间频率,需要变换光栅频率,进行许多次测量。当成像系统MTF曲线变化较大,需要更多的测量次数。 ;2.狭缝法 先精确测定线扩散函数LI(xi)，然后对其进行傅里叶变换,得到一维光学传递函数曲线，即： H(fx,0)=F{LI(xi)} 上图中：a)图为光学传递函数测量系统　b)图为放大后的LI(xi)图像和线阵CCD器件。S为受到非相干照明的狭缝，经被测透镜L1成像在中间像面P，得到其线扩散函数 LI(xi)，再通过精密校正的显微物镜L0，把它放大成像到线阵CCD上。记录的数据经计算机快速傅里叶变换FFT，得到一维光学传递函数OTF曲线。狭缝旋转90°,可测量正交的另一维方向OTF。 ;6、光学传递函数的测量;7、相干与非相干成像系统的比较;7、相干与非相干成像系统的比较;本章小结