用于高性能集成电路之复杂几何结构的特征描述与生产监测.PDF
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KLA-TENCOR™ 与 TEL 宣布推出具有
下一代建模功能的 ACUSHAPETM2
新型 SPECTRASHAPETM 尺寸度量系统
用于高性能集成电路之复杂几何结构的
特征描述与生产监测
【加州 MILPITAS 2011 年 3 月 28 日讯】今天,KLA-Tencor CorporationTM (NASDAQ:
KLAC) 宣布推出采用与 Tokyo Electron Limited (TEL) 联合开发之 AcuSha
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