XRF定量分析原理.ppt

定量分析的基本问题 基体效应的校正 样品基体的定义 基体的分类 基体对校准曲线的影响 基体效应 基体效应的分类 吸收效应 增强效应 光谱重叠的校正方法 光谱重叠校正系数的计算方法 3.光谱峰位背景的校正 光谱连续背景的分布 背景类型 光谱峰位背景 线性区峰底背景强度的计算 非线性区峰底背景计算 4.定量分析的基本方法 1. 实验校正法 实验校正法(内标法) 散射内标法 2. 数学校正法 数学校正法 经验校正数学模型 经验系数校正的计算方法 经验校正系数的计算方法 加入经验校正(项)系数 数学校正法 理论 Alpha系数法数学模型 基本参数法 5.样品制备 取样要求 样品的表面状态 荧光的逸散深度 (mm) 固体样品的制备 固体试样表面粗糙的度影响 表面光洁度对强度的影响 粉末样品的制备 颗粒度和压力对光谱强度的影响 粘结剂对分析线强度的影响 粉末压片HBO3样品衬垫 熔融法 试样/熔剂比 熔剂类型的选择 熔融温度 氧化剂 添加剂 冷却对结晶的影响 峰底背景利用通过4个背景点的多项式进行计算：式中: BgC表示常数项；BgL表示线性项；BgQ表示二次项； BgT 表示高次项。X表示离主峰中心位置的 (2?); R(background)表示峰位的背景强度 定量分析方法根据基体影响处理不同可分为： 实验校正和数学校正两类：