X射线衍射及其应用.ppt

* * 布拉格方程把晶体周期性的特点d、X射线的本质λ与衍射规律θ结合起来，利用衍射实验只要知道其中两个，就可以计算出第三个。 在实际工作中有两种使用此方程的方法。已知λ，在实验中测定θ，计算d可以确定晶体的周期结构，这是所谓的晶体结构分析。已知d，在实验中测定θ，计算出λ，可以研究产生X射线特征波长，从而确定该物质是由何种元素组成的，含量多少。这种方法称为X射线波谱分析。 三、X射线衍射的实验方法 最基本的衍射实验方法有：粉末法、劳厄法和转晶法三种。 三种基本衍射实验方法 实验方法 所用辐射 样品 照相法 衍射仪法 粉末法 单色辐射 多晶或晶体粉末 样品转动或固定 德拜照相机 粉末衍射仪 劳厄法 连续辐射 单晶体 样品固定 劳厄相机 单晶或粉末衍射仪 转晶法 单色辐射 单晶体 样品转动或固定 转晶-回摆照相机 单晶衍射仪 粉末法实验特点：采用单色X射线，样品采用许多取向的小晶体总和； 劳厄法实验特点：改变波长，增加衍射斑点； 转晶法实验特点：转动单晶体来增加衍射斑点； X射线衍射仪法： 粉末法在晶体学研究中应用广泛，其中粉末X射线衍射仪法使用更方便，自动化程度高，尤其是与计算机结合，使得衍射仪在强度测量、花样标定和物相分析等方面具有更好的性能。 衍射图谱 一张衍射图谱上衍射线的位置仅和原子排列周期性有关 强度则决定于原子种类、数量、相对位置等性质 衍射线的位置和强度就完整地反映了晶体结构的两个特征，从而成为辨别物相的依据 X射线衍射仪组成结构 实验条件选择 （一）试样 衍射仪试样可以是各种粉末、金属、非金属的块状或片状试样。对于块状、片状试样可以用粘接剂将其固定在试样框架上，并保持一个平面与框架平面平行；粉末试样用压片法填入试样架凹槽中，使粉末表面刮平与框架平面一致。试样对晶粒大小、试样厚度、择优取向、应力状态和试样表面平整度等都有一定要求。 实验条件选择 （二）实验参数选择 选择宽的狭缝可以获得高的X射线衍射强度，但分辨率要降低；若希望提高分辨率则应选择小的狭缝宽度。 扫描速度是指探测器在测角仪圆周上均匀转动的角速度。扫描速度对衍射结果的影响与时间常数类似，扫描速度越快，衍射线强度下降，衍射峰向扫描方向偏移，分辨率下降，一些弱峰会被掩盖而丢失。但过低的扫描速度也是不实际的。 粉末衍射样品要求和制备 根据测试样品的类型，制备方法可分为以下三种： （1）粉末样品制备； （2）块状样品制备； （3）特殊样品制备。 粉末样品制备： 粉末样品制备一般填装在有开槽的平整玻璃或塑料板上；装样品时注意使颗粒方向随机分布。 粉末要求：干燥、在空气中稳定、粒度在0.1-10μm左右。一般可以用研磨的方法制备，手摸无颗粒感为止。 块状样品的要求：测试面清洁平整、可装入中空样品架中，垂直于测试面的厚度不超过样品架。 块状样品制备： 取适量橡皮泥放于样品台开槽内。 将样品放于橡皮泥上。 用盖玻片压平，高度与样品架齐平。 薄膜样品 特殊样品：极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。 制备方法：一般采用特殊低背景样品架，将微粉或液体在其单晶硅片上均匀分散开即可。 非晶条带也是平铺在单晶硅上，尽可能与其贴合。 特殊样品制备方法： 影响测试结果的因素： 粉末样品颗粒大小的影响 样品高度的影响 样品量的影响 制样表面平整度的影响 粉末样品颗粒大小的影响 要求粉末粒度在0.1-10μm左右，粒度大衍射强度低，峰形不好，分辨率低；粒度小产生衍射峰的宽化； 样品高度的影响 如果样品表面高出样品架表面，会使衍射峰位移向较低的角度，如果样品表面低于样品架表面，会使衍射峰位移向较高的角度； 薄膜样品厚度存在强度的影响：厚时会产生吸收，薄时衍射较弱 样品量的影响 制样表面平整度的影响 粉末样品量要足够，样品量过少会对衍射强度和准确度造成影响； 粉末衍射仪要求样品表面要平整，试样表面若形状不规则、不平整或者毛糙等等会引起衍射线的宽化、位移以及强度产生复杂的变化；但是，制取平整表面的过程常常容易引起择优取向，择优取向的存在会严重地影响衍射线的正确测量。 粗糙制样与精细制样的衍射图对比 实验过程中注意事项： X射线衍射仪关键部件之一是X光管，光管故障绝大多数是由于不及时冷却而损坏，所以机器运转时应当经常检查制冷机工作是否正常，同时严格按照先开冷却机再开主机，先关主机再关冷却机的开关机顺序； 装换样时要轻拿轻放，以免粉末洒落污染仪器的样品台； 开关仪器门时，要轻开轻闭以免损坏仪器的玻璃门； 开启仪器门时，请注意仪器是否已停止工作，关闭仪器门时，要注意门是否关紧； 请勿使用自带U盘在控制电脑上读取数据，以免造成PDF数据库和实验数据的丢失； X射线对生命机体有一定的杀伤作用，当辐射剂量超过临界辐射量—0.05伦琴/每天时，便将产生显著的有