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统计技术培训 目录 统计技术总介 常用统计技术 统计技术的应用特点 统计技术的应用领域 常用的概率分布 正态分布 统计检验 工序能力 质量控制图---SPC 一、关于统计技术的总介 （一）常用统计技术 统计检验---显著性检验 工序能力分析 质量控制图 正交分析和实验设计 相关分析、回归分析 （二）统计技术的应用特点 对总体及总体平均数进行估计 比较两个或多个数量之间的差异性 生产过程的预测及控制 物料/产品的验收---抽样方案 （二）统计技术的应用特点 对影响事物的变量因素进行分析 确认变量之间的相关性 分析因变量和自变量间的回归关系 试验设计 （三）统计技术的应用领域 质量管理 安全评价---风险分析 市场分析 产品设计 气候、环境预测 （四）常见的概率分布 连续型随机变量---正态分布 离散型随机变量--- 二项分布 帕松分布（poisson)、小概率事件 二、正态分布 正态总体中抽取的样本平均数也服从正态分布 中心极限原理 总体不是正态分布时，若样本n充分大，则样本平均数X近似服从正态分布 三、统计检验 概念---从样本数据出发对总体的比较进行推断 2个正态总体方差的检验 2个正态总体平均值的检验 三、统计检验 〈2个正态总体方差检验〉 ---服从F分布 df=n-1 d1=n1-1 d2=n2-1 三、统计检验 双侧检： 当原假设H0：δ12=δ22, 则否定域为:FFα/2或FF1- α/2 三、统计检验 〈两正态总体均值的检验〉 t检验 〈T-test〉 当原假设H0：μ1=μ2， 则否定域为︱t︱tα 三、统计检验 两个总体的比较首先是F-test 在F-test显示没有差异时 再做T-test 三、统计检验 〈两正态总体均值的检验〉 〈成对检验〉 在同一条件下，将试验结果与对照相对比的方法 Df=n-1 H0：Ud=0,即μ1=μ2 否定域︱t︱tα 四、工序能力 定义 工序控制能力：简称工序能力，就是工序加工合格产品的能力，也就是生产出来的产品质量与规定的质量要求相符合的程度，以Cp表示。 四、工序能力 Cpk=Min〔CPL,CPU〕 CPL=(过程平均值-LSL）/3σ CPU=(USL-过程平均值)/3σ Cp,Cpk1 四、工序能力 过程综合能力等级评价---Ⅲ为最适宜的过程能力 五、质量控制图---SPC 过程 过程的波动性 五、质量控制图---SPC 过程及过程控制系统 有反馈的过程控制系统模型 过程控制系统 五、质量控制图---SPC 产品质量的统计特性 1、质量的波动性 五、质量控制图---SPC 2、质量波动的规律性 计量数据：服从正态分布，μ、σ不变 计数数据：服从二项分布或泊松分布 五、质量控制图---SPC （一）对生产过程质量进行预测和控制的手段 高质量的要求是： 符合标准 持续稳定 质量控制的目的是---减少质量波动，降低成本。 五、质量控制图---SPC （二）常用控制图的种类 五、质量控制图---SPC （三）控制图组成 中线 警戒上下限 控制上下限 五、质量控制图---SPC （三）控制图种类 平均值控制图： 极差控制图 ： 移动极差 ： X-MR 五、质量控制图---SPC （四）控制图的使用原则 1、取样原则--- 随机抽样 间隔合理确定 样本大小应确保控制图的检出力，一般至少≧24，样本分布接近正态分布 五、质量控制图---SPC 2、计量控制图须二图联用，分别控制质量特性值分布的中心值和标准偏差 3、计数控制图单图使用，只控制中心 4、过程能力必须达到基本要求，即Cp或 5、生产条件或质量改进后应重新设计控制图 五、质量控制图---SPC （五）不同控制图的检出力和适用范围不同 X（ 检出力量强，控制强度高，且有较强通用性）； SRMR（S因检出力量强，但因要求样本大小 10，但计数复杂，较少用）。 五、质量控制图---SPC (六) 平均值---极差控制图 ---适用于数据可以分组的场合 可提高检出力 五、质量控制图---SPC (七)X-MR单值移动极差控制图 ---适用场合 测试费用高昂; 样品测试后不能再使用 需尽早发现异常 在工艺参数(如温度、压力、时间）下，每次只能得到一个特定值 过程中取多个值无意义时 五、质量控制图---SPC 控制图的判断基础 ---小概率事件原理，即小概率事件不发生原理 如 的情况若发生,则有理由认为发生了异常