计算机科学技术-实验一 TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试.docVIP

实验一 TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 一、实验目的 1、掌握TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 2、掌握TTL 器件的使用规则 3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法 二、实验原理 本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。 图2－1 74LS20 逻辑框图、逻辑符号及引脚排列 1、与非门的逻辑功能 与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0” 得“1”，全“1”得“0”。） 其逻辑表达式为 Y＝ 2、TTL 与非门的主要参数 (1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。通常ICCL＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。 器件的最大功耗为PCCL＝VCCICCL。手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。ICCL和ICCH测试电路如图2－2(a)、(b)所示。 [注意]：TTL电路