相控阵技术的基础原理.PPTVIP

焊缝电子扫查 相控阵焊缝串列扫查 扇形(带方位角的) 扫查 扇形扫查 – 不改变位置而改变入射角 – 检测缺陷时很有用。 扇形扫查 扇形扫查可以不移动探头就检测整个待检工件 检测表面复杂或空间有限的情况下大有用武之地 一个相控阵探头结合了宽波束探头和多焦点探头的优势 扇形扫查图例 扇形扫查动画 扇形扫查对“难以接近”的复杂型面十分适合如，涡轮叶的根部检测 * Design Parameters of Phased-Array Probes * Design Parameters of Phased-Array Probes * Beam FocusingBeam Profiles It can be seen that with a greater number of elements pulsed a smaller diameter focal diameter is achievable at a greater depth * Phased Array Wave-forming Fundamentals * Conventional Wave-forming Huygens’ Principle. Defined, the Huygens Principle states; “every point on a wavefront may itself be regarded as a source of secondary waves. Therefore, if the position of a wavefront at any instant is known, a simple construction enables its position to be drawn at any subsequent time.” (Christian Huygens 1629-1695) * Huygens’ Principle. Defined, the Huygens Principle states; “every point on a wavefront may itself be regarded as a source of secondary waves. Therefore, if the position of a wavefront at any instant is known, a simple construction enables its position to be drawn at any subsequent time.” (Christian Huygens 1629-1695) * Phased-Array Wave-forming * Phased-Array Wave-forming * Phased-Array Wave-forming 相控阵培训课程 相控阵工作原理 Source: NDT On-line 相控阵定义 一种晶片的激发时间可以单独调节，以控制声束轴线和焦点等参数的换能器晶片阵列。 讨论提纲 相控阵能做什么？ 线形, 扇形 动态深度聚焦 线形和 扇形的结合 常见的探头阵列几何外形 线形阵 1维 线形阵 2维 矩形阵 圆形阵 1维 环形阵 2维 扇形阵 p g e H A 探头参数： 频率 (f) 晶片数量 (n) 晶片阵列方向孔径 (A) 晶片加工方向宽度 (H) 单个晶片宽度 (e) 两个晶片中心之间的间距 (p) 相控阵探头设计参数 一个长方形晶片被切割成许多个小晶片，形成一维阵列探头，每个小晶片都可以单独激发。 相控阵探头设计参数 相控阵基础 晶片数量：10 孔径：10 x 10mm 波束聚焦 晶片数量：16 孔径：16 x 10mm 晶片数量：32 孔径：32 x 10mm d 波束形成与晶片波束宽度的关系 A 点A 可以因为所有的波束都在晶片波束宽度内 B 点B的效果不好因为波束超出了晶片的波束宽度 波束的产生和聚焦 用不同的延时激发晶片产生不同外形的波束 这是一个纵波各个晶片延时相等 电子扫查 探头不作任何机械移动，而波束沿晶片阵列方向作电子扫查。 通过对激活晶片组进行多路延时，使波束产生移动。 扫查宽度局限于: 阵列中晶片的数量 采集系统支持的通道数量 激活晶片组 波束偏转 对横波而言, 延时参数是“倾斜的” 如图所示。 波束偏转和聚焦 图中有阵列里的各个晶片; 加在每个晶片上的延时; 产生的波束在早期、中期和焦点处的形状。 为了聚焦和倾斜, 我们采用复合曲线和抛物线。 相控阵波束形成原理 常规超声探头波束角度偏转 (发射) 根据惠更斯原理产生超声波束 通过带角度楔块