原子吸收分光光度法标准操作规程.docVIP

原子吸收分光光度法标准操作规程 1 简述 供试品在高温下经原子化产生原子蒸汽时，如有一光衍射作用于原子，当辐射频率相当于原子中电子从基态跃迁到较高能量时，即引起原子对特定波长的吸收。吸收通过发生在真空紫外、紫外及可见光区。原子吸收光谱为线光谱，通过测定该特征光谱线的吸光度可以计算出该待测原始的含量。原子吸收一般遵守吸收分光光度法的比尔定律，试验条件固定时特定波长处的吸光度值与样品中原子浓度成正比。但实验参数的变化会影响结果值。 原子吸收分光光度法的测量对象是呈原子状态的金属元素和部分非金属元素。测定的样品一般经高温破坏成原子态，在气态下利用自由原子的光谱性质进行测量，常用在药物中无机元素的测定。 1.1 仪器 原子吸收分光光度计主要由光源、原子化器、单色器、检测器、记录显示系统和数据处理系统等部分组成。 1.1.1 光源 由于原子光谱为线光谱，原子吸收分光光度计的光源应能在窄的光谱范围内有高强度的辐射，否则检测器得不到准确测量信号。因此，需要应用能满足上述要求的线光源。原子吸收分光光度计常用的光源为空心阴极灯。灯的阴极由待分析元素的物质构成，工作时使该元素激发并发射特征光谱。被测元素只能用该元素的空心阴极灯进行分析。 1.1.2 原子化器 常用的原子化器有主要有火焰 火焰型原子化器 样品溶液导入雾化器成气溶胶，并与燃气和助燃气充分混合后在燃烧器上成火焰燃烧，不同物质需要不同能量使其离子态转变成基态的原子。入射光通过基态原子时部分能量被吸收，并由传感器转变为电信号，用记录仪进行记录。 改变燃气和助燃气的种类及比例可以控制火焰的温度，以获得较好的火焰稳定性和测定灵敏度。最常用乙炔-空气火焰。 电热型原子化器 又称无火焰原子化器，其中又以石墨炉应用最广。石墨炉原子化器为用电流控制温度的炉子，其中放入可置放样品的石墨管或其他合适的样品置放装置。在测定过程中炉内通入氩或其他保护气体，以防止炉的氧化。以一定体积的样品溶液加入石墨管后用电加热使其原子化。电加热的过程至少有三个阶段：干燥阶段用略高于溶剂沸点的温度，以较长时间使溶剂蒸发至干。灰化阶段是去掉比分析元素容易挥发的样品基体以减少背景吸收，根据具体情况选择合适的灰化温度及时间。最后阶段为原子化阶段。温度应升至能使样品转变成气态原子，该阶段的升温速度必须很快，加热时间应尽可能短，以延长石墨炉的寿命。原子蒸气迅速从入射光束通道中扩散出去，形成一个瞬态吸收信号，用记录仪记录。 冷蒸气原子化器：测汞时，在汞蒸气发生器中，汞离子被还原成汞，然后将汞蒸气直接导入原子吸收池中。 1.1.3. 单色器 通常用衍射光栅为色散元件。仪器光路应能保证有良好的光谱分辨率和在相当窄的光谱带（0.2nm）下正常工作的能力 1.1.4.检测器 一般采用对紫外及可见光敏感的宽光谱工作范围的光电倍增管作为检测元件。要求检测器的输出信号灵敏度高、噪声低、漂移小及稳定性 1.1.5 记录仪和数据处理系统 原子吸收分光光度计常用绘图打印机记录测定结果。数据处理系统需能测量信号积分值和制备标准曲线以及统计计算处理。有的仪器将参数设定操作系统和数据处理系统放在一起工作。 1.2 背景校正的消除 背景吸收干扰是原子吸收测定中常见的现象。造成背景干扰的原因多种多样，并往往随样品情况的变化而变化。一般认为，背景来源于样品中共存组分及其在原子化过程中形成的次生分子或原子的热发射、光吸收和光散射。其中有些干扰可以通过适当的样品前处理或优化原子化过程的条件得以消除或减少，但许多干扰仍难以避免。必须另辟蹊径，通过改进仪器设计予以克服。 背景校正的基本原理是将分析谱线两侧的读数作为背景读数，然后从分析线的峰值读数中扣除之。最常用的背景校正方法有三种：一是连续光源校正法，采用两个光源，主光源为线光源（即空心阴极灯），另一光源为连续光源，在紫外区通常用氘灯。来自线光源的样品光束通过样品时，其吸光度读数为待测元素与背景吸收之和，来自连续光源的参比光束通过样品时测定背景读数，二者之差即为校正的待测元素的吸光度。二是塞曼效应校正法，多电子原子的发射谱线通过强磁场时，由于空间量子化的缘故使谱线发生分裂，分裂后的中心线称π成分，两侧射线称σ+成分。π成分作为样品光束测定样品和背景的总吸光度，σ+作为参比光束测定背景吸收，二者之差即为样品吸收。三是强脉冲自吸校正法，在空心阴极灯的工作周期内依次施加两个不同强度的脉冲，在弱脉冲作用下发射正常的谱线，在强脉冲作用下多普勒效应和阴极溅射增强，从而使谱线变宽而且引起明显的自吸收，造成辐射能在中心波长处缺失而分布于中心波长的两侧。将弱脉冲作用下的发射谱线作为样品光束，强脉冲作用下的自吸谱线作为参比光束，依次测定吸光度，以实施校正。连续光源校正由于使用双光源，样品光束和参比光束的准直较为