我地实验报告材料之金硅面垒α谱仪.docVIP

实用文档 文案大全 实验名称:金硅面垒α谱仪 一 、实验目的 1.掌握金硅面垒探测器的原理及使用方法； 2.了解谱仪的工作原理及其特性； 3.学会使用金硅面垒探测器测量粒子在空气中的射程； 4.分析粒子的能量损失率与射程的关系； 5.分析粒子的能量岐离随能量、射程的变化。 二、实验仪器 1.FH-445Aα探头架一个； 2.FH1047电荷灵敏度前置放大器、BH1218主放大器一台； 3.3－30多道分析器； 4. 2X-1A型旋片式真空泵及真空表、三相异步电动机各一个； 5.金硅面垒探测器一个； 6.偏压电源一台； 7.Am和Puα源各一个。 实验装置示意图如图1所示： 2X-1A型旋片式真空泵及真空表、三相异步电动机各一个 2X-1A型旋片式真空泵及真空表、三相异步电动机各一个 源 * 电荷灵敏放大器 FH1047A 主放大器 BH1218 微机多道 分析器 ORTEC 偏压电源 真空室 金硅面垒 半导体探测器 图1 谱仪实验装置图 三、实验原理 3.1.金硅面垒探测器的原理 金硅面垒半导体探测器主要用于测量重带电粒子的能谱。它的分辨率仅次于磁谱仪，比屏栅电离室和闪烁谱仪都要高。而设备比磁谱仪简单的多，使用也方便的多。它的缺点是灵敏面积不能做得很大，因而限制了大面积放射源的使用。金硅面垒探测器的响应速度与闪烁计算器差不多，比气体探测器快的多，所以常用来做定时探测器。它的本