第三章电子衍射.pptVIP

3.7.2 FCC结构的花样特征和层错概率的计算 图3.28 FCC层错晶体110*倒易阵点衍射斑点位移角 与层错概率的关系 3.7.2 FCC结构的花样特征和层错概率的计算 二、FCC结构中层错概率测定举例 以Fe-22Mn-2Si-2Al试样为例进行电子显微镜观察，一组样品为原始态，另一样品经-75 ℃拉伸后再进行观察，结果如图3.29到图3.30所示。 图3.29 原始试样层错形貌 (a) 明场像 (b)对应的衍射花样 3.7.2 FCC结构的花样特征和层错概率的计算 图3.30 原始试样孪晶形貌 图3.31 拉伸试样低密度平行层错形貌 图3.32 拉伸试样高密度平行层错形貌 (a)暗场像 (b)对应的衍射花样 (a)衍射花样 (b) 暗场像 (a)衍射花样 (b) 暗场像 3.7.2 FCC结构的花样特征和层错概率的计算 由图3.29和3.30可以看出，原始试样中存在着层错和孪晶，其层错呈无序排列，对应的衍射花样没有任何偏移。而从图3.31和3.32可以看出，经拉伸后的试样中出现了大量平行排列的层错，利用图3.28中衍射斑点位移角与层错概率的关系可以求出其对应的层错概率分别约0.15（图3.31）和0.35（图3.32）。 3.8 系统倾转技术及其应用 系统倾转是通过双倾样品台两个倾轴(X轴和Y轴) 按一定的角度比逐步倾动样品, 完成晶体绕其某一晶向的系统转动, 从而获得相关的不同晶带电子衍射花样的一种方法, 它是透射电子显微镜(TEM)操作的一种重要实验技术。 未知晶体确定的三维倒易点阵重构,位错柏氏矢量和位错滑移面的确定,以及许多重要的迹线分析均离不开系统倾转技术。下面将介绍不依赖菊池花样的系统倾转技术，并举例说明该技术的应用。 3.8.1 双倾台系统倾转技术 当样品具有清晰菊池线花样时, 系统倾转样品就成为一种非常简单的事情。倾动样品时,只要保证荧屏中心的电子束方向始终在某晶面菊池线对的中间作相对运动, 即可到达某菊池极,获得该菊池极对应的晶带衍射花样。然后用同样方法可从该菊池极倾转到另一菊池极, 这样可唯一地确定每个晶带菊池衍射花样的指数。但是如果样品太薄,缺陷太多就不能得到清晰的菊池花样; 再则要获得具有三菊池极的衍射花样对样品位向也有很大的限制。因此, 不依赖菊池花样达到系统倾转样品的目的, 就显得有重要实际意义。下面以JEM100-CX 透射电子显微镜为例简介该方法: 3.8.1 双倾台系统倾转技术 (1) X, Y的轴向倾动是由电子显微镜台面下的四块踏板完成的。其中两块控制X轴, 分别命名为X1和X2,一块正转,一块反转；另两块控制Y轴,分别命名为Y1和Y2,同样正转和反转。在进行系统倾动前, 可先利用菊池线清晰样品(例如退火不锈钢) 在某一选定的相机长度下(考虑磁转角) , 由菊池线的走向确定每块踏板使荧屏中某方位的倒易平面向上转动的方向。图3.33画出了本实验室JEM100-CX 在83 cm相机长度下四块踏板使荧屏中倒易平面向上转动的示意图。 3.8.1 双倾台系统倾转技术 图3.33 倒易平面上倾方位示意图 3.8.1 双倾台系统倾转技术 (2) 图3.33为面心立方[112]晶带对称电子衍射花样示意图，图中的 　 点列与X轴重合， 点列与Y轴重合。如果要保持 点列, 即以 点列为转轴, 只要踩动Y轴两块踏板, 如果要保持 点列,只要倾转X轴。如果要以 点列为旋转轴，并要求面朝 点列逆时针转动，由图3.33可知， 轴的垂直方向矢量在Y1和X2有分量, 而且Y1的分量大于X2的分量, 因此主要踩动Y1轴, 辅助踩动X2。当倾转30°，由极图可知，将获得[100]晶带电子衍射花样。 3.6.3 单晶电子衍射花样的基本应用 图3.17 某低钒钢中基体与析出相的选区电子衍射花样示意图 3.6.3 单晶电子衍射花样的基本应用 由单晶电子衍射花样产生的几何条件可知，这两套衍射花样的晶带轴方向都近似地平行于电子束，因此可得 ∥ 。从两套衍射花样中，某一对斑点R矢量在同一方向上，即表示对应晶面法线平行，也就是晶面平行，由此得到 ∥ 。从衍射花样看出， -Fe的020斑点与V4C3的 斑点重合，由d值的计算表明两者有一定的错配度，存在半共格的关系，这种错配度对材料有应变强化的作用。由此可得到 铁素体和V4C3之间的取向关系： ∥ ， 或