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透射电子显微镜及其在纳米材料中的表征 透射电子显微镜及其在纳米材料中的表征 何腾桥 理学院材料物理专业 指导教师：张莉芹、吴开明 摘要：文章重点介绍了透射电子显微镜的结构、原理以及其发展状况。透射电子显微镜发展至 今，英放大倍数接近15万倍，分辨本领达到0. 14um,因此它在微观材料的研究方面广为应用。文屮通过 透射电子显微镜对纳米颗粒材料的分析与表征，体现了它在材料尤其是纳米颗粒材料分析中重耍的作用。 关键词：透射电子显微镜纳米颗粒粒度物和分析 透射电子显微镜简称透射电镜，它是以波长极短的电子束作为照明源，用 电子透镜聚焦成像的一种高分辨本领、高放大倍数的屯子光学仪器。 —、综述 1.透射电镜的发展状况：[5] 1931年，徳国的M.诺尔和E.鲁斯卡用冷阴极放电电子源和三个电子透镜 改装了一台高压示波器，并获得了放大十几倍的图像，发明的是透射电镜，证 实了电子显微镜放大成像的可能性。 1932年，经过鲁斯卡的改进，电子显微镜的分辨能力达到了 50纳米，约 为当时光学显微镜分辨本领的十倍，突破了光学显微镜分辨极限，于是电子显 微镜开始受到人们的重视。 到了二十世纪40年代，美国的希尔用消像散器补偿电子透镜的旋转不对称 性，使电子显微镜的分辨本领有了新的突破，逐步达到了现代水平。 1947年，德国科学家Scherzer提出，磁透镜的欠聚焦能够补偿因透镜缺陷 (球差)引起的相位差