原子力显微镜AFM课件.ppt

Atomic Force Microscopy 原子力显微镜 光学显微镜 扫描探针显微镜SPM scanning tunneling Microscopy (STM，1982) Atomic force microscopy (AFM) Lateral Force Microscopy (LFM) Magnetic Force Microscopy (MFM) Electrostatic Force Microscopy (EFM) Chemical Force Microscopy (CFM) Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM) 正是因为AFM工作时不需要探测隧道电流，所以它可以用于分辨包括绝缘体在内的各种材料表面上的单个原子，其应用范围无疑比STM更加广阔。但从分辨率来看，AFM要比STM略微低一些。 AFM信号反馈模式 光束偏转测量法工作原理图 接触模式 (contact mode) 非接触模式 (non-contact mode) 轻敲模式 (tapping / intermittent contact mode) ◎非接触式（Noncontact Mode）——非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5～10 nm 的距离处振荡。 这时，样品与针尖之间的相互作用由范德华力控制，通常为10-12 N ，样品不会被破坏，而且针尖也不会被污染，特别适合于研究柔嫩物体的表面。 这种操作模式的不利之处在于要在室温大气环境下实现这种模式十分困难。因为样品表面不可避免地会积聚薄薄的一层水，它会在样品与针尖之间搭起一小小的毛细桥，将针尖与表面吸在一起，从而增加尖端对表面的压力。 特点： 1）分辨率几乎同接触模式一样好； 2）接触非常短暂，因此剪切力引起的对样品的破坏几乎完全消失； 三种模式的比较 　接触模式（Contact Mode）： 　　优点：扫描速度快，是唯一能够获得“原子分辨率”图像的AFM垂直方向上有明显变化的质硬样品，有时更适于用Contact Mode扫描成像。 　　缺点：横向力影响图像质量。在空气中，因为样品表面吸附液层的毛细作用，使针尖与样品之间的粘着力很大。横向力与粘着力的合力导致图像空间分辨率降低，而且针尖刮擦样品会损坏软质样品（如生物样品，聚合体等）。 非接触模式（Non-Contact Mode）： 优点：没有力作用于样品表面。 缺点：由于针尖与样品分离，横向分辨率低；为了避免接触吸附层而导致针尖胶粘，其扫描速度低于Tapping Mode和Contact Mode AFM。通常仅用于非常怕水的样品，吸附液层必须薄，如果太厚，针尖会陷入液层，引起反馈不稳，刮擦样品。由于上述缺点，Non-contact Mode的使用受到限制。 轻敲模式（Tapping Mode）： 优点：很好的消除了横向力的影响。降低了由吸附液层引起的力，图像分辨率高，适于观测软、易碎、或胶粘性样品，不会损伤其表面。 缺点：比Contact Mode AFM的扫描速度慢。 原子力显微镜之解析度 2.2.1 原子力显微镜的基本原理 原子力显微镜的微悬臂及针尖 (3)足够小的微悬臂：根据前面的两个条件可以计算出，微悬臂的质量必须小于1ug(微克)，而其长度则必须在微米尺度才能符合要求。 (4)足够高的侧向刚性：以便尽可能地克服由于水平方向(侧向)摩擦力造成的信号干扰。 (5)尽量短的微悬臂，用光束偏转来测量恳臂的偏转时，其灵敏度反比于悬臂的长度。 (6)微悬臂的前端要有一个微小的针尖。理想针尖的顶端应该是单个原子，这样的针尖能够灵敏地感应出它与样品表面之间的相互作用力。 微悬臂和针尖的结构形式 微悬臂和针尖的结构形式 微悬臂和针尖的结构形式 微悬臂和针尖的结构形式 Quate等人获得了HOPG(高定向 石墨)，MoS2(二硫化钼)和 HOPBN(高定问氮化硼)表 面的高分辨原子图像； 其中高定向氮化硼是第一种用 AFM得到其原子图像的绝缘体材料，它的表面原子结构如图所示，其中相邻两个原子之间的间距为0.25nm。由于高定向氮化硼不导电，用STM不可能得到它的原子图像的。 对于接近于原于级平坦的表面，将微悬臂和样品之间构成一定的角度(通常20O左右)后，可以用微悬臂的尖端作为针尖来扫描。但是，对于粗糙的表面，这种方法可能会导致微悬臂的一些部位在扫描时与样品表面接触，所以直接用悬臂的尖端作为针尖将不可取。 微悬臂和针尖的结构形式 微悬臂和针尖的结构形式 微悬臂和针尖的结