采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定高纯锑中痕量元素的含量.DOCVIP

PAGE PAGE 4 高纯铅化学分析方法 锌、银、铜、铝、镁、镍、锡、铁、镉、锑、砷含量的测定 辉光放电质谱法 编制说明 2012年3月 高纯铅化学分析方法 锌、银、铜、铝、镁、镍、锡、铁、镉、锑、砷含量的测定 辉光放电质谱法 任务来源及计划要求 1. 任务来源 高纯铅主要用于PbS 、PbSe、PbTe等化合物半导体材料，是制作红外探测器、光电导检测器、长波激光器、激光调制器及摄像管靶面的重要材料，在国民经济的各个部门和领域中发挥着重要作用。根据国家标委会下达的计划编号为2009-0226T～0229T-YS、2009-0268T-YS的任务，高纯铅的分析方法标准要求在2011～2012年完成。 2．起草单位概况 峨嵋半导体材料有限公司从事化合物半导体用高纯材料的研制已有四十多年的历史，生产科研试制体系完善，技术基础优势明显，目前已完成近二十种元素材料和化合物材料的生产工艺研究，形成多条产品生产线，工艺技术先进，产品质量水平国内领先，为推动我国化合物半导体材料的应用研究和发展作出了贡献。公司检测设备齐全，拥有原子发射光谱仪、等离子发射光谱仪、原子吸收光谱仪、紫外分光光度仪、极谱仪、气相色谱仪、等离子质谱仪、辉光放电质谱仪等多种微量、痕量分析仪器，产品分析检测体系完善，具备完成多种高纯元素材料分析检测的能力，并多次主持和参与国家及行业有关标准的制定和修订。