第4章 S3C2410处理器硬件结构汇编.pptVIP

4.1 S3C2410A处理器概述 注意： 4.4 最小系统 2.设计电源电路 电源设计在确定电压需求之后，需重点分析功耗要求。 S3C2410A处理器1.8V消耗的电流约100mA。为了保证可靠性并留下余量，则电源系统1.8V能够提供的电流应当大于300mA。 整个系统在3.3V上消耗的电流与其他功能模块和外部条件有很大的关系，这里假设电流不超过300mA，这样，电源系统3.3V能够提供600mA电流即可。 2.设计电源电路 电源设计在确定电压和功耗需求之后，需分析的就是电源的纹波、效率、调整率、外部提供的输入电源等。 其中的输入电源通常选择高质量的5V直流稳压电源。 5V输入电压经过DC-DC转换器可以实现5V到3.3V和5V到1.8V的转换。电路如图所示。 DC-DC模块的输入和输出需加滤波电容； 电源设计通常采用LED指示灯提示； RTC模块需要长期供电，即使外部掉电也不能让RTC模块停止工作，因此添加电池来供电。 外部振荡器晶振电路设计 实际工程使用的复位电路设计 4.5.1 JTAG概述 JTAG是Joint Test Action Group（联合测试行动组）的简称。IEEE1149.1标准是由JTAG这个组织最初提出来的，最终由IEEE批准并标准化的，所以，IEEE1149.1标准也俗称JTAG标准。 JTAG标准主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试。在芯片内部封装专门的电路测试访问接口（TAP），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。 目前，大多数复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA等。 1.TAP 接口 TAP是一个通用的端口，通过TAP可以访问芯片提供的所有数据寄存器（DR）和指令寄存器（IR）。标准的TAP总共包括5个信号接口： TCK：测试时钟，为TAP的操作提供了一个独立的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。 TMS：测试模式选择，用来控制TAP状态机的转换。TMS信号在TCK的上升沿有效。 TDI：数据输入，所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的。 TDO：数据输出，所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的。 TRST：JTAG复位信号，可以用来对TAP 控制器进行复位。 2.边界扫描 在JTAG调试中，边界扫描是一个很重要的概念。边界扫描技术的基本思想是在靠近芯片的输入输出管脚上增加一个移位寄存器单元，称为边界扫描寄存器。 芯片处于调试状态时，这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围的输入输出隔离开来。通过这些边界扫描寄存器单元，可以实现对芯片输入输出信号的观察和控制。如果需要捕获芯片某个管脚上的输出，首先需要把该管脚上的输出装载到边界扫描链的寄存器单元中去，然后通过TDO输出，这样，就可以从TDO上得到相应管脚上的输出信号。如果要在芯片的某个管脚上加载一个特定的信号，则首先需要通过TDI把期望的信号移位到与相应管脚相连的边界扫描链的寄存器单元里去，然后将该寄存器单元的值加载到相应的芯片管脚。 1）14针JTAG接口定义 引 脚 名 称 描 述 1、13 VCC 接电源 3 nTRST 测试系统复位信号 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 TDO 测试数据串行输出 12 NC 未连接 其他 GND 接地 4.5.2 接口电路设计 * * 第4章 S3C2410A处理器硬件结构 4.1 S3C2410A处理器概述 4.2 引脚介绍 4.3 特殊功能寄存器 4.4 最小应用系统设计 S3C2410是Samsung公司推出的一款16/32位RISC处理器，基于ARM920T内核，支持ARM和Thumb指令集，芯片内集成丰富外设，而且具有非常低的功率消耗。使该系列微控制器特别适用于工业控制、医疗系统、访问控制和POS机等场合。在小尺寸上为手持设备和普通应用提供了低价格、低功耗、高性能的解决方案。 ARM公司的 技术规范 芯片制造厂 商的扩展 S3C2410A在包 括ARM920T内 核的同时，还 增加了丰富的 外围资源。 具备16KB的指令Cache 和16KB的数据Cache和 MMU 高性能嵌入式系统的 总线标准 AMBA 扩展高速总线AHB 外部存储