防灾科技学院 晶体光学 期末复习.docxVIP

晶体光学期末总复习大纲 PAGE 8 第一章 晶体光学基础 自然光：光波在任何方向作等振幅的震动。 偏光：光波只在一个方向上震动。 波速越大，折射率越小。 均质体：光学性质不随方向发生变化，为各向同性的介质。{高级晶族等轴晶系、非晶质体}不发生双折射，只有一个折射率。 光性非均质体:一切具有双折射率特征的介质。 双折射：光线进入各向异性的介质后，分解成两条光线沿不同方向折射。 光轴：光波沿非均质体的特殊方向射入时不发生双折射，也不改变入射光性质及振动方向， 这种特殊方向称为光轴，用OA表示。 光性均质体 非晶质体、高级晶族--等轴晶系（萤石） 光性非均质体 一轴晶：中级晶族--三、四、六、方晶系 （方解石） 二轴晶：低级晶族—斜方、单斜、三斜晶系 （橄榄石、角闪石、斜长石） 第二章 光率体与光性方位 光率体：表示光波在晶体中传播时，光波振动方向与相应折射率之间关系的一种立体图形。 光轴角：两个光轴之间所夹的锐角，以“2V表示”。 光学法线：通过光率体中心而垂直光轴面方向为主轴Nm，光学法线与主轴Nm一致。 二轴晶光率体光性正负的划分原则： （1）显微镜下，Bxa=Ng(+) Bxa=NP(-) （2）作差相比。 光性方位：光率体主轴与结晶轴之间的关系。 第四章 单偏光镜下的晶体光学性质 （单偏光镜装置：下偏光镜） 解理：矿物晶体在外力作用下，沿一定方向裂成光滑平面的性质。 解理缝：解理在岩石薄片中表现为一些相互平行的细缝。 裂纹：如果缝是弯曲的，而不是直线，彼此常不平行，则称为裂纹。 解理角的测定：（1）选择两组解理缝最细最清晰、升降镜筒解理缝不左右移动的切面； （2）旋转载物台使一组解理缝平行于目镜的十字丝纵丝，并记下载物台读书a； （3）旋转载物台使另外一组解理缝平行于目镜纵丝，记下物台读数b，a-b即为解理角。 （非均质体）多色性：在单偏光镜下旋转载物台时，矿物颜色发生变化的现象。 （不同方向对不同波长光的选择性吸收所决定）Ng—浅绿色 （非均质体）吸收性：在单偏光镜下旋转载物台时，矿物颜色深浅发生变化的现象。 （不同方向对光的吸收强度上的差异）如：NeNo *折射率较大的振动方向表现的多色性和吸收性较明显。 边缘：岩石薄片中，在两个折射率不同的物质接触处，可以看到一条比较黑暗的界线，称为边缘。 贝克线：在边缘的临近处可以看到一条比较明亮的细线，称为贝克线。 边缘和贝克线原因：相邻两介质折射率不同；双折射率越大，越黑，贝克线越亮。 贝克线移动规律：（1）提升镜筒（下降物台），贝克线总是向折射率大的方向移动。 （2）下降镜筒（提升镜筒），贝克线总是向折射率小的方向移动。 贝克线用途：通过矿物与矿物或矿物与树胶之间的贝克线移动规律，可以比较他们之间的折射率相对大小，并确定突起的政府。 糙面：单偏光镜下观察薄片中矿物表面的光滑程度，某些矿物表面像粗糙皮革一样呈像点状，这种矿物表面粗糙不平的现象称为糙面。（原因：树胶与矿物折射率不等） *矿物与树胶折射率差越大，糙面越显著。 突起：在单偏光镜下观察矿物薄片中矿物时，不同矿物好像高低不同，这种现象称为突起。（原因：矿物折射率和树胶折射率不同） 闪突起：单偏光镜下，当旋转载物台时，非均质体矿物边缘、糙面及突起高低随方向而发生明显变化，这种现象称为闪突起。（双折射率最大具明显闪突起，即平行光轴面） （原因：旋转载物台时突起等级突然由高突起变为低突起，突起等级发生闪动变化） 第五章 正交偏光镜下的晶体光学性质 （正交偏光装置：下偏光镜、上偏光镜） 消光：透明矿物薄片，在正交偏光镜下呈现黑暗的现象。 消光位：矿片在消光位时所处的位置。（光率体长短半径//十字丝） 全消光：均质体和非均质体垂直光轴的切片，在正交偏光镜下，旋转物台360。,视域始终保持黑暗。（原因：这两种矿片光率体切面均为圆切面没有双折射） 四次消光：非均质体不垂直于光轴的切片，在正交偏光下，旋转物台360。，有四明四暗的现象。 消光类型：对称消光（解理缝、双晶缝或晶体延长方向//十字丝纵丝或横丝）、 斜消光（解理缝、双晶缝或晶体延长方向与十字丝斜交）、 平行消光（矿片在消光位时，目镜十字丝平分两组解理夹角） 角闪石不同切面消光类型不同： //(001)对称消光（001面两组解理）、//(010)斜消光（Ng^c, Np=b）、//(100)平行消光（Ng和c轴投影一致） 消光角：指矿物消光时，其光率体椭圆半径与解理缝、双晶缝、晶体延长方向之间的夹角。（实质：解理缝与应变椭球体Ng之间的夹角）如Ng^c=25° 消光角