论电测技术中的抗干扰问题.docVIP

天 津 大 学 网 络 教 育 学 院 专科毕业论文 题目：论电测技术中的抗干扰问题 完成期限：2014年 1月 1日 至2014 年 1月23 日 学 习 中 心 新疆伊犁教学中心 年 级 2012 专 业 电气自动化技术 指 导 教 师 梁 煜 姓 名 刘继平 学 号 121301433006 摘 要 干扰是从外部以及内部影响仪表以及相关装置正常工作的各种因素的综合，减轻和消除干扰是电测技术发展中的重点。本文主要从干扰的基本种类以及干扰的传递方式出发，结合电测技术本身的特征，综合分析如何进行有效的抗干扰措施。 关键词：电测技术;抗干扰;措施 论电测技术中的抗干扰问题 随着电子技术的迅速发展,电子设备已被广泛地应用于各个领域。近几年,微机测控系统,特别是单片机技术在工业自动化、生产工程控制、智能化仪器仪表等行业内的应用愈来愈深入和广泛,并提高了生产效率,改善了工作条件,带来了一定经济效益,但测控系统往往在比较恶劣和复杂的工作环境下运行,于是其应用可靠性、安全性就成为一个非常突出的问题。微机系统必须能长期稳定、可靠地运行,否则一旦系统失灵,就会造成巨大的经济损失。影响测控系统安全运行的主要因素是来自系统内部和外部的各种电气干扰,以及系统结构