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X射线衍射方法测量残余应力的原理与方法-STRESS XRD 2009-01-10 21:07:39阅读719评论3 字号：大中小订阅 X射线衍射方法测量残余应力的原理与方法 什么是残余应力？ 外力撤除后在材料内部残留的应力就是残余应力。但是，习惯上将 残余应力分为微观应力和宏观应力。两种应力在X射线衍射谱中的表现 是不相同的。微观应力是指晶粒内部残留的应力，它的存在，使衍射峰 变宽。这种变宽通常与因为晶粒细化引起的衍射峰变宽混杂在一起，两 者形成卷积。通过测量衍射峰的宽化，并釆用近似函数法或傅立叶变换 方法来求得微观应力的大小。宏观应力是指存在于多个晶休尺度范围内 的应力，相对于微观应力存在的范围而视为宏观上存在的应力。一般情 况下，残余应力的术语就是指在宏观上存在的这种应力。宏观残余应力 （以下称残余应力）在X射线衍射谱上的表现是使峰位漂移。当存在压 应力时，晶面间距变小，因此，衍射峰向高度度偏移，反之，当存在拉 应力时，晶面间的距离被拉大，导致衍射峰位向低角度位移。通过测量 样品衍峰的位移情况，可以求得残余应力。 X射线衍射法测量残余应力的发展 X射线衍射法是一种无损性的测试方法，因此，对于测试脆性和不 透明材料的残余应力是最常用的方法。20世纪初，人们就已经开始利 用X射线来测定晶体的应力。后来日本成功设计出的X射线应力测定 仪，对于残余应力测试技术的发展作了巨大贡献。1961年徳国的 E.Mchearauch提出了 X射线应力测泄的sin2屮法，使应力测泄的实际 应用向前推进了一大步。 X射线衍射法测量残余应力的基本原理 X射线衍射测量残余内应力的基本原理是以测量衍射线位移作为 原始数据，所测得的结果实际上是残余应变，而残余应力是通过虎克定 律由残余应变计算得到的。 其基本原理是：当试样中存在残余应力时，晶面间距将发生变化， 发生布拉格衍射时，产生的衍射峰也将随之移动，而且移动距离的大小 与应力大小相关。用波长入的X射线，先后数次以不同的入射角照射到 试样上，测出相应的衍対角28,求出28对sin2屮的斜率M,便可算出 应力o屮。 X射线衍射方法主要是测试沿试样表面某一方向上的内应力o（p。 为此需利用弹性力学理论求出o（p的表达式。出于X射线对试样的穿入 能力有限，只能探测试样的表层应力，这种表层应力分布对视为二维应 力状态，其垂直试样的主应力03=0（该方向的主应变83^0）o由此，可 求得与试样表面法向成屮角的应变￡屮的表达式为： E g兀心） 6 二 一 COt On 5 ? 2（1+ u） 180 Q（sin，0） ￡屮的量值可以用衍射晶而间距的相对变化来表示且与衍射峰位移 联系起来，即: 第二-cot 第二-cot 九?-%) a 式中eo为无应力试样衍射峰的布拉格角，e屮为有应力试样衍射峰 位的布拉格角。 于是将上式代入并求偏导，可得: E2(1+U) E 2(1+U) 令一 K = -― cot90 — , M 则 j = K?M 2(1 + u) 180 d(sm2 ° 其中K是只与材料本质、选定衍射面HKL有关的常数，当测量的样品 是同一种材料，而且选定的衍射血指数相同时，K为定值，称为应力系 数。M是(20) -sin2屮直线的斜率，对同一衍射面HKL,选择一组屮 值(0。、15\ 30。、45°)，测量相应的(29)屮以(20) -sin2屮作图， 并以最小二乘法求得斜率M,就可计算出应力(q)是试样平面内选定 主应力方向后，测得的应力与主应力方向的夹角)。由于KvO,所以， MvO时，为拉应力，M0时为压应力，而“二0时无应力存在。 样品与衍射面之间的关系 衍射仪测量测量残余应力的实验方法 在使用衍射仪测量应力时，试样与探测器e-2e关系联动，属于固 定屮法。通常屮二0。、15\ 30。、45。测量数次。 出屮二0时，与常规使用衍射仪的方法一样，将探测器(记数管)放在 理论算出的衍射角20处，此时入射线及衍射线相对于样品表面法线呈 对称放射配置。然后使试样与探测器按0-20联动。在28处附近扫描得 出指定的HKL衍射线的图谱。当屮H0时，将衍射仪测角台的亠28联 动分开。先使样品顺时针转过一个规定的屮角后，而探测器仍处于0。 然后联上e-29联动装置在20处附近进行扫描，得出同一条HKL衍射 线的图谱。 最后,作20-sin2屮的关系直线最后按应力表达o=K-A20/Asin2ip= K?M求出应力值。 残余内应力测试的数据处理 由布拉格方程可知，0角越人则起测量误差引起Ad/d的误差越 小，所以测量时应选择9角尽量大于衍射面。取n个不同的屮角度进 行测定26i(i=1, 2, 3,…，n), 一般可取n?4,采用数据处理程序对 20屮的原始测量数据进行扣除背底、数值平滑、确定峰位等