第2章__光电检测技术基础.pptVIP

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  • 2019-09-22 发布于湖北
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光信息科学与技术系 第二章 光电检测技术基础 半导体的特性 半导体电阻温度系数一般是负的(温度升高,电阻下降),而且对温度变化非常敏感。根据这一特性,可以制作热电探测器件。 导电性受极微量杂质的影响而发生十分显著的变化。(纯净Si在室温下电导率为5*10-6/(欧姆?厘米)。掺入硅原子数百万分之一的杂质时,电导率为2 /(欧姆?厘米)) 半导体导电能力及性质受光、电、磁等作用的影响。 本征和杂质半导体 本征半导体就是没有杂质和缺陷的半导体。 在纯净的半导体中掺入一定的杂质,可以显著地控制半导体的导电性质。 掺入的杂质可以分为施主杂质和受主杂质。 施主杂质为不可移动的带正电的施主离子,同时提供电子,使半导体成为电子导电的n型半导体。 受主杂质为不可移动的带负电的受主离子,同时提供空穴,使半导体成为空穴导电的p型半导体。 平衡和非平衡载流子 处于热平衡状态的半导体,在一定温度下,载流子浓度一定。这种处于热平衡状态下的载流子浓度,称为平衡载流子浓度。 半导体的热平衡状态是相对的,有条件的。如果对半导体施加外界作用,破坏了热平衡的条件,这就迫使它处于与热平衡状态相偏离的状态,称为非平衡状态。 处于非平衡状态的半导体,其载流子浓度也不再是平衡载流子浓度,比它们多出一部分。比平衡状态多出来的这部分载流子称为非平衡载流子。 非平衡载流子的产生 光注入:用光照使得半导体内部产生非平衡载流子。

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