第一章X射线衍射分析1-1.pptVIP

正比计数器的阴极是充气圆柱形金属套管，中心的细金属丝作为阳极。套管一端用云母或铍作为窗口，好让射线通过，另一端用绝缘体封闭。若将阳极和阴极之间的电压提高到600-900V时，则为正比计数管的范围。由于电场强度较高，从而使电离的电子获得足以使其它中性气体原子继续电离的动能，这样，在电子飞向阳极的途中又引起进一步的电离。如此反复，最终在阳极的某个点上形成一“雪崩”，而在外电路中产生一个电流脉冲，这个电流经R1形成一个数毫伏电压脉冲，再通过耦合电容C1输入到检测回路的前置放大器中。由于正比计数光中存在多次电离过程，从而使计数管具有“气体放大作用”。 2、脉冲高度分析器 它是一种特殊的电子电路，它和β滤波片配合使用可以去掉β过滤片尚未扣除掉的大部分连续谱线，但是不能去掉Kβ附近的连续谱线以及残留的Kβ。 3、定标器 它是将脉冲高度分析器输出的脉冲经整形后加以计数的电子装置。可用于强度的精确测量，有定时计数和定数计时两种工作方式。 1.4 X射线衍射仪1.4.4 探测与记录系统 4、计数率仪 它是能连续测量计数速率变化的仪器。由三个部分组成： (1)输入脉冲整形电路。它将输入脉冲变成合乎一定要求的矩形脉冲； (2)RC积分电路。它将整形后的矩形脉冲转换成平均电流或平均电压； (3)电压或电流电路。它将电压或电流用纸带电子电位计自动记录下，并以单位时间的平均脉冲数即以计数率表示。以计数率表示衍射强度，可以迅速地将衍射线的强度、线性和角位置记录下来。 1.4 X射线衍射仪1.4.4 探测与记录系统 控制系统是利用电子计算机控制X射线衍射仪测量、记录、数据处理和打印结果的装置。 1.4 X射线衍射仪1.4.5 控制系统 1.4 X射线衍射仪1.4.6实验与测量方法 1、样品的制备方法 (1)晶粒尺寸：粉末粒度1-5 μm 注意：样品的均匀性、消除制样过程引起结构上的变化。 2、仪器实验工作参数的选择 一些实验工作参数的选择对衍射图 的影响是互相矛盾、互相制约的 1.4 X射线衍射仪1.4.6实验与测量方法 3、测量方法 (1)衍射线峰位的测量 1.峰巅法；2.切线法；3.半高宽中点法；4.中线峰法； 5.重心法；6.抛物线拟合法。 峰巅法 切线法 半高宽中点法 (2)衍射线强度的测量 1.4 X射线衍射仪1.4.6实验与测量方法 (3)衍射线线形的测量 1.半高宽法； 2.积分宽度法； 3.方差宽度法 峰高强度 积分强度 求积法 计数法 1.5粉晶X射线物相分析1.5.1粉晶X射线定性分析 X射线衍射线的位置决定于晶胞的形状和大小，也即决定于各晶面的面间距 X射线衍射线的相对强度则决定于晶胞内原子的种类、数目及排列方式。 每种晶态物质都有其特有的成分和结构，不是前者有异，就是后者有别，因而也就有其独特的衍射花样。 由于粉晶法在不同的实验条件下总能得到一系列基本不变的衍射数据，因此借以进行物相分析的衍射数据都取自粉晶法； 其方法就是将所得到的衍射数据（或图谱）与标准物质的衍射数据或图谱进行比较，如果两者能够吻合，这就表明样品与该标准物质是同一物相，从而便可作出鉴定。 1.5粉晶X射线物相分析1.5.1粉晶X射线定性分析 1938年左右，哈那瓦特（Hanawalt)等就开始收集和摄取各种已知衍射花样，将其衍射数据进行科学的整理和分类。 1942年，美国材料试验协会（ASTM）整理出版了卡片1300张，称之为ASTM卡片。 1969年起，由美国材料试验协会和英国、法国、加拿大等国家的有关单位共同组成了名为“粉末衍射标准联合委员会”（JCPDS）国际机构，专门负责收集、校订各种物质的衍射数据，将它们进行统一的分类和编号，编制成卡片出版，这种卡片组被命名为粉末衍射卡组（PDF）。 1.5粉晶X射线物相分析1.5.1粉晶X射线定性分析 1、卡片 ★ ：数据高度可靠; i：表明稍逊于★者，但比无标记者好 〇：可靠程度较低；C:衍射数据来自理论计算 最大面网间距 光阑直径 晶系 空间群 物理性质和晶体 光学参数 备注 1.5粉晶X射线物相分析1.5.1粉晶X射线定性分析 2、索引 (1)字顺索引：是以物质的单质或化合物的英文名称，按英文字母顺序排列而成的索引。 (2)矿物名称索引：按矿物英文名称的字母顺序排列。 (3)哈纳瓦尔特(Hanawalt)索引：是一种按d值编排的数字索引，是鉴定未知物相时主要使用的索引。 (4)芬克(Fink)索引：也是一种按d值编排的数字索引，但其编排原则与哈纳瓦特索引有所不同。 1.5粉晶X射线物相分析1.5.1粉晶X射线定性分析 (1)字顺索引： ★Aluminum Oxide Al2O3 2.09Х 2.559 1.608