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实验一 基本门电路的逻辑功能测试
一、实验目的
1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2、了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理
实验中用到的基本门电路的符号为:
在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。
三、实验设备与器件
1、数字逻辑电路用PROTEUS
2、显示可用发光二极管。
3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。
四、实验内容
测试TTL门电路的逻辑功能:
测试74LS08的逻辑功能。(与门)000 010 100 111
测试74LS32的逻辑功能。(或门)000 011 101 111
测试74LS04的逻辑功能。(非门)01 10
测试74LS00的逻辑功能。(两个都弄得时候不亮,其他都亮)(与非门)(如果只接一个的话,就是非门)001 011 101 110
测试74LS02(或非门)的逻辑功能。(两个都不弄得时候亮,其他不亮)001 010 100 110
测试74LS86(异或门)的逻辑功能。
测试CMOS门电路的逻辑功能:在CMOS 4000分类中查询
测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。(与门)
测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。(或门)
测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。(非门)
测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。(与非门)(如果只接一个的话,就是非门)
测试CC4001(74HC02)(或非门)的逻辑功能。
f) 测试CC4030(74HC86)(异或门)的逻辑功能。
五、实验报告要求
画好各门电路的真值表表格,将实验结果填写到表中。
根据实验结果,写出各逻辑门的逻辑表达式,并分析如何判断逻辑门的好坏。
比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。
4.查询各种集成门的管脚分配,并注明各个管脚的作用与功能。
例:74LS00
与门
Y=AB
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
74LS32
或门
Y=A B
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
1
1
1
1
1
1
1
1
1
74LS04
输出
A
Y
0
0
0
0
1
0
1
1
74LS02
74LS86
任意一个连都亮,两个都连不亮
(2)
CC4081
两个都连得时候亮,其他都不亮
CC4071
两个都不连的时候不亮,其他都亮
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