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《材料分析方法》复试考题
一、解释下列名字的不同
1、X射线衍射与电子衍射有何异同？
电子衍射与X射线衍射相比具有下列特点：
1)电子波的波长比X射线短的多,在同样满足布拉格定律时,它的衍射角θ非常小,约为10-2rad, 而X射线衍射时, 最大角可接近π/2。
2)电子衍射操作时采用薄膜样品,薄膜样品的倒易阵点会沿样品的厚度方向延伸成杆状,于是,增加了倒易阵点和厄瓦尔德球相交的机会,结果使略微偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
3)由于电子波的波长短,采用厄瓦尔德图解时,反射球的半径很大,在衍射角θ较小的范围内,反射球面可以近似看成一个平面. 可以认为,电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内.这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观地反映各晶面的位向,便于实际结构分析。
4)原子对电子的散射能力远高于它对X—射线的散射能力(约高出4个数量级),故电子衍射束的强度较大,摄取衍射花样时曝光时间仅需数秒钟。
2、特征x射线与连续x射线
4、物相分析与成分分析
二、说出下列检定所要用的手段（这个记不清了）
1、测奥氏体成分含量 直接比较法（定量）
2、薄膜上1nm微粒的物相
3、晶界的微量成分好像 肯定俄歇谱仪
4、忘了，反正就是XRD，透射电镜，扫描电镜，定性啊，定量啊什么的
三、让你说明德拜照相法的衍射几何，还让画图
四、给你一个图，让你说明二次电子成像的原理
五、说明宏观应力测定的原理（没复习到，比较难）
六、给你一个衍射斑点的图，告诉你体心立方好像，然后让你鉴别出点的指数
七、给了一个15组数据的X射线衍射数据，还有3个PDF卡片，SiO2，α-Al2O3，β-Al2O3，然后让你说明这15组数据分别属于哪个物相，就是物相检定的一个实际操作。
2011复试材料分析方法回忆版
一、简答题（40=5*4+10*2）
1、连续X射线与特征X射线的特点
连续X射线：
X射线强度I沿着波长连续分布
存在短波限λSWL
存在最大强度对应的波长λm
特征X射线
波长对阳极靶材有严格恒定数值。 （只决定于阳极靶材元素的原子序）
波长不受管电压、管电流的影响
标识谱的强度随管电压和管电流提高而增大
对于多晶体材料衍射分析，希望入射X射线的单色性最好，即I特/I连最大。（一般取U/Uk=4时，I特/I连取得最大值，故X射线管工作电压为U≈3-5Uk。[Uk为K系特征谱的激发电压]）
2、物相分析与成分分析的区别
成分分析：确定组成物质的元素成分及含量,但不能说明其存在状态。如45钢，含Fe,C元素
物相分析：确定由各种元素的存在状态、其晶体结构等（单质或化合物）。如45钢，主要有α铁素体及渗碳体构成。
物相定性分析的原理是什么？对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何不同？
答： 物相定性分析的原理：X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样（衍射位置θ、衍射强度I），而没有两种结晶物质会给出完全相同的衍射花样，所以我们才能根据衍射花样与晶体结构一一对应的关系，来确定某一物相。
对食盐进行化学分析，只可得出组成物质的元素种类（Na,Cl等）及其含量，却不能说明其存在状态，亦即不能说明其是何种晶体结构，同种元素虽然成分不发生变化，但可以不同晶体状态存在，对化合物更是如此。定性分析的任务就是鉴别待测样由哪些物相所组成。
物相定
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