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几种碳材料的图谱拟合与分析
葛青亲博士
albert.ge@
表面分析 应用工程师
赛默飞世尔科技(中国)有限公司
目录
I: 几种XPS数据拟合方法
• 单峰拟合
• 双峰拟合
• 非线性最小二乘拟合
II: 常规污染C的谱峰拟合
III: 碳纳米管/石墨烯等不对称峰的拟合、分析
IV ：复杂高分子材料的价态谱NLLSF拟合
V ：其他分析方法
2
常规污染C的谱峰拟合
对C元素来讲，与自身成键(C−C) 或与H成键(C−H) 时C1s 电子的结合能约
为284.8eV 。(常作为结合能参考，这是最方便、常用，但也可能是最不准的
内标）
3
• 单峰拟合，要求有合理的峰宽和对应合理化学意义的结合能位置
4
谱峰拟合——单峰拟合
5
污染C 内标的不确定性
元素 自然氧化 清洁表面 BE差 元素 自然氧化 清洁表面 BE差
Ag 285.5 284.7 0.8 Nb 285.1 284.9 0.2
Al 286.3 285.1 1.2 Ni 285.4 284.9 0.5
As 284.6 284.7 -0.1 Pb 285.6 285.2 0.4
B 284.6 285.2 -0.6 Pd 285.3 284.2 1.1
Be 285.6 284.4 1.2 Re 284.5 285 -0.5
Bi 285.4 284.8 0.6 Rh 284.6 284 0.6
Cd 286 285 1 Sb 285 284.4 0.6
Co 285.5 284.4 1.1 Sc 285.9 286.8 -0.9
Cr 285.1 284.9 0.2 Se 284.3 284.2 0.1
Se 284.3 284.2 0.1 Cu 284.7 284.7 0
Si 285.7 284.9 0.8 Fe 285.2 284.4 0.8
Sn 285.2 284.8 0.4 Ga 286.1 285.6 0.5
Ge 285.7 284.5 1.2 Te 284.8 284.2 0.6
Hf 286.2 286.1 0.1 Tl 285.4 285.2 0.2
In 285.4 284.9
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